Importo totale (1 articolo articoli):
Destinazione ordine:
sandeep goel krishnendu chakrabarty (31 risultati)
Vai alla pagina principale dei risultati di ricerca
Filtri di ricerca
Tipo di articolo
- Tutti i tipi di prodotto
- Libri (31)
- Riviste e Giornali (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Fumetti (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Spartiti (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Arte, Stampe e Poster (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Fotografie (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Mappe (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Manoscritti e Collezionismo cartaceo (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
Condizioni Maggiori informazioni
- Nuovo (26)
- Come nuovo, Ottimo o Quasi ottimo (5)
- Molto buono o Buono (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Discreto o Mediocre (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Come descritto (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
Legatura
Ulteriori caratteristiche
- Prima ed. (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Copia autograf. (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Sovracoperta (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Con foto (14)
- Non Print on Demand (25)
Lingua (1)
Spedizione gratuita
Paese del venditore
Valutazione venditore
-
Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits (Devices, Circuits, and Systems)
Da: Majestic Books, Hounslow, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 108,38
Convertire valutaEUR 7,48 per la spedizione da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 3 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. pp. 259.
-
Testing for Small-delay Defects in Nanoscale Cmos Integrated Circuits
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 113,75
Convertire valutaEUR 2,27 per la spedizione in U.S.A.Quantità: 10 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
-
Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits (Devices, Circuits, and Systems)
Da: California Books, Miami, FL, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 117,13
Convertire valutaGratis per la spedizione in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
-
Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits (Devices, Circuits, and Systems)
Da: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 116,20
Convertire valutaEUR 3,44 per la spedizione in U.S.A.Quantità: 3 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. pp. 259.
-
Testing for Small-delay Defects in Nanoscale Cmos Integrated Circuits
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 122,20
Convertire valutaEUR 2,27 per la spedizione in U.S.A.Quantità: 10 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: As New. Unread book in perfect condition.
-
Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits (Devices, Circuits, and Systems)
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 114,18
Convertire valutaEUR 13,78 per la spedizione da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. In.
-
Testing for Small-delay Defects in Nanoscale Cmos Integrated Circuits
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 114,17
Convertire valutaEUR 17,25 per la spedizione da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 10 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
-
Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits
Da: THE SAINT BOOKSTORE, Southport, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 114,83
Convertire valutaEUR 18,56 per la spedizione da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloPaperback / softback. Condizione: New. New copy - Usually dispatched within 4 working days.
-
Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits (Devices, Circuits, and Systems)
Da: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Germania
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 122,37
Convertire valutaEUR 9,95 per la spedizione da Germania a U.S.A.Quantità: 3 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. pp. 259.
-
Testing for Small-delay Defects in Nanoscale Cmos Integrated Circuits
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 128,08
Convertire valutaEUR 17,25 per la spedizione da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 10 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: As New. Unread book in perfect condition.
-
TESTING FOR SMALL-DELAY DEFECTS IN NANOSCALE CMOS INTEGRATED CIRCUITS
Da: Basi6 International, Irving, TX, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 168,03
Convertire valutaGratis per la spedizione in U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: Brand New. New. US edition. Expediting shipping for all USA and Europe orders excluding PO Box. Excellent Customer Service.
-
Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits
Da: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 170,21
Convertire valutaEUR 3,44 per la spedizione in U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. pp. 250 2nd Edition.
-
Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits
Da: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Germania
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 180,46
Convertire valutaEUR 9,95 per la spedizione da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. pp. 250.
-
Testing for Small-delay Defects in Nanoscale Cmos Integrated Circuits
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 233,19
Convertire valutaEUR 2,27 per la spedizione in U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
-
Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits
Da: PBShop.store US, Wood Dale, IL, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 235,54
Convertire valutaGratis per la spedizione in U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloHRD. Condizione: New. New Book. Shipped from UK. Established seller since 2000.
-
Testing for Small-delay Defects in Nanoscale Cmos Integrated Circuits
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 231,01
Convertire valutaEUR 17,25 per la spedizione da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: As New. Unread book in perfect condition.
-
Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits
Da: PBShop.store UK, Fairford, GLOS, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 242,13
Convertire valutaEUR 5,77 per la spedizione da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloHRD. Condizione: New. New Book. Shipped from UK. Established seller since 2000.
-
Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits (Devices, Circuits, and Systems)
Da: Mispah books, Redhill, SURRE, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 221,54
Convertire valutaEUR 28,76 per la spedizione da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: Like New. Like New. book.
-
Testing for Small-delay Defects in Nanoscale Cmos Integrated Circuits
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 255,74
Convertire valutaEUR 2,27 per la spedizione in U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: As New. Unread book in perfect condition.
-
Testing for Small-delay Defects in Nanoscale Cmos Integrated Circuits
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 242,12
Convertire valutaEUR 17,25 per la spedizione da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
-
Testing for Small-delay Defects in Nanoscale Cmos Integrated Circuits
Da: Revaluation Books, Exeter, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 285,85
Convertire valutaEUR 14,38 per la spedizione da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: Brand New. 1st edition. 250 pages. 9.49x6.10x0.87 inches. In Stock.
-
EUR 246,59
Convertire valutaEUR 48,99 per la spedizione da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. Sandeep Kumar Goel is a Senior Manager (DFT/3D-Test) with Taiwan Semiconductor Manufacturing Company (TSMC), San Jose, CA. He received his Ph.D. degree from the University of Twente, The Netherlands. Prior to TSMC, he was in various rese.
-
Edizione InternazionaleTesting For Small-Delay Defects In Nanoscale Cmos Integrated Circuits (
Da: UK BOOKS STORE, London, LONDO, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 339,82
Convertire valutaGratis per la spedizione da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 3 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: New. Brand New ! Fast Delivery "International Edition " and ship within 24-48 hours. Deliver by FedEx and Dhl, & Aramex, UPS, & USPS and we do accept APO and PO BOX Addresses. Order can be delivered worldwide within 4-6 Working days .and we do have flat rate for up to 2LB. Extra shipping charges will be requested This Item May be shipped from India, United states & United Kingdom. Depending on your location and availability.
-
EUR 268,95
Convertire valutaEUR 70,00 per la spedizione da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloBuch. Condizione: Neu. Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits | Sandeep K. Goel | Buch | Devices, Circuits, and Systems | Einband - fest (Hardcover) | Englisch | 2013 | CRC Press | EAN 9781439829417 | Verantwortliche Person für die EU: preigu GmbH & Co. KG, Lengericher Landstr. 19, 49078 Osnabrück, mail[at]preigu[dot]de | Anbieter: preigu.
-
Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits
Editore: Taylor & Francis Inc Okt 2013, 2013
ISBN 10: 1439829411 ISBN 13: 9781439829417
Lingua: Inglese
EUR 301,14
Convertire valutaEUR 62,99 per la spedizione da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloBuch. Condizione: Neu. Neuware - Advances in design methods and process technologies are causing a continuous increase in the complexity of integrated circuits (ICs). However, the increased complexity and nanometer-size features of modern ICs make them susceptible to manufacturing defects, as well as performance and quality issues. This book covers common problems in areas such as process variation, power supply, noise, crosstalk, resistive opens/bridges, and design-for-manufacturing (DiM)-related rule violations. The book also addresses small-delay defects (SDDs) and testing, which can cause immediate failures if introduced on both critical and non-critical paths in the circuit.
-
Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits
Da: PBShop.store US, Wood Dale, IL, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 124,91
Convertire valutaGratis per la spedizione in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloPAP. Condizione: New. New Book. Shipped from UK. THIS BOOK IS PRINTED ON DEMAND. Established seller since 2000.
-
Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits
Da: PBShop.store UK, Fairford, GLOS, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 119,67
Convertire valutaEUR 5,77 per la spedizione da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloPAP. Condizione: New. New Book. Delivered from our UK warehouse in 4 to 14 business days. THIS BOOK IS PRINTED ON DEMAND. Established seller since 2000.
-
EUR 93,92
Convertire valutaEUR 48,99 per la spedizione da Germania a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Sandeep Kumar Goel is a Senior Manager (DFT/3D-Test) with Taiwan Semiconductor Manufacturing Company (TSMC), San Jose, CA. He received his Ph.D. degree from the University of Twente, The Netherlands. Prior to TSMC, he was in various rese.
-
Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits
Da: Majestic Books, Hounslow, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 178,10
Convertire valutaEUR 7,48 per la spedizione da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. pp. 250 This item is printed on demand.
-
EUR 126,02
Convertire valutaEUR 62,03 per la spedizione da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloTaschenbuch. Condizione: Neu. nach der Bestellung gedruckt Neuware - Printed after ordering - Advances in design methods and process technologies are leading to a continuous increase in the complexity of integrated circuits (ICs). However, the increased complexity and nanometer-size features of modern ICs make them susceptible to manufacturing defects, as well as performance and quality issues. This book covers common problems in areas such as process variations, power supply noise, crosstalk, resistive opens/bridges, and design-for-manufacturing (DfM)-related rule violations. The book also addresses testing for small-delay defects (SDDs), which can cause timing failures on both critical and non-critical paths in the circuit.
