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Valutazione venditore
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Vlsi Design and Test : 17th International Symposium, Vdat 2013, Jaipur, India, July 27-30, 2013, Proceedings
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 53,65
Spedizione EUR 2,29
Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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Vlsi Design and Test : 17th International Symposium, Vdat 2013, Jaipur, India, July 27-30, 2013, Proceedings
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 59,61
Spedizione EUR 2,29
Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
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VLSI Design and Test: 17th International Symposium, VDAT 2013, Jaipur, India, July 27-30, 2013, Proceedings (Communications in Computer and Information Science, 382)
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 60,51
Spedizione EUR 13,86
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
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VLSI Design and Test: 17th International Symposium, VDAT 2013, Jaipur, India, July 27-30, 2013, Proceedings (Communications in Computer and Information Science)
Da: Chiron Media, Wallingford, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 57,01
Spedizione EUR 17,92
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 10 disponibili
Aggiungi al carrelloPaperback. Condizione: New.
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Vlsi Design and Test : 17th International Symposium, Vdat 2013, Jaipur, India, July 27-30, 2013, Proceedings
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 59,96
Spedizione EUR 17,35
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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Condizione: New. pp. 406.
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Vlsi Design and Test : 17th International Symposium, Vdat 2013, Jaipur, India, July 27-30, 2013, Proceedings
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 66,62
Spedizione EUR 17,35
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: As New. Unread book in perfect condition.
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VLSI Design and Test: 17th International Symposium, VDAT 2013, Jaipur, India, July 27-30, 2013, Proceedings
Da: Revaluation Books, Exeter, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 80,83
Spedizione EUR 14,46
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloPaperback. Condizione: Brand New. 2013 edition. 396 pages. 9.50x6.25x1.00 inches. In Stock.
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EUR 50,35
Spedizione EUR 70,00
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 5 disponibili
Aggiungi al carrelloTaschenbuch. Condizione: Neu. VLSI Design and Test | 17th International Symposium, VDAT 2013, Jaipur, India, July 27-30, 2013, Proceedings | Manoj Singh Gaur (u. a.) | Taschenbuch | Communications in Computer and Information Science | xvi | Englisch | 2013 | Springer | EAN 9783642420238 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
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EUR 59,97
Spedizione EUR 63,05
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloTaschenbuch. Condizione: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book constitutes the refereed proceedings of the 17th International Symposium on VLSI Design and Test, VDAT 2013, held in Jaipur, India, in July 2013. The 44 papers presented were carefully reviewed and selected from 162 submissions. The papers discuss the frontiers of design and test of VLSI components, circuits and systems. They are organized in topical sections on VLSI design, testing and verification, embedded systems, emerging technology.
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VLSI Design and Test: 17th International Symposium, VDAT 2013, Jaipur, India, July 27-30, 2013, Proceedings (eng)
Da: Brook Bookstore On Demand, Napoli, NA, Italia
Valutazione del venditore 3 su 5 stelle
EUR 46,22
Spedizione EUR 6,80
Spedito da Italia a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
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VLSI Design and Test
Lingua: Inglese
Editore: Springer Berlin Heidelberg Dez 2013, 2013
ISBN 10: 3642420230 ISBN 13: 9783642420238
Da: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, Germania
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 53,49
Spedizione EUR 23,00
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloTaschenbuch. Condizione: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -This book constitutes the refereed proceedings of the 17th International Symposium on VLSI Design and Test, VDAT 2013, held in Jaipur, India, in July 2013. The 44 papers presented were carefully reviewed and selected from 162 submissions. The papers discuss the frontiers of design and test of VLSI components, circuits and systems. They are organized in topical sections on VLSI design, testing and verification, embedded systems, emerging technology. 404 pp. Englisch.
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VLSI Design and Test
Da: Majestic Books, Hounslow, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 79,72
Spedizione EUR 7,52
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 4 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. Print on Demand pp. 406 246 Illus.
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VLSI Design and Test
Da: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Germania
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 79,93
Spedizione EUR 9,95
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 4 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. PRINT ON DEMAND pp. 406.
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VLSI Design and Test
Lingua: Inglese
Editore: Springer Berlin Heidelberg, 2013
ISBN 10: 3642420230 ISBN 13: 9783642420238
EUR 48,37
Spedizione EUR 48,99
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. This book constitutes the refereed proceedings of the 17th International Symposium on VLSI Design and Test, VDAT 2013, held in Jaipur, India, in July 2013. The 44 papers presented were carefully reviewed and selected from 162 submissions. The papers discuss.
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VLSI Design and Test
Lingua: Inglese
Editore: Springer, Springer Dez 2013, 2013
ISBN 10: 3642420230 ISBN 13: 9783642420238
Da: buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Germania
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 53,49
Spedizione EUR 60,00
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloTaschenbuch. Condizione: Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -This book constitutes the refereed proceedings of the 17th International Symposium on VLSI Design and Test, VDAT 2013, held in Jaipur, India, in July 2013. The 44 papers presented were carefully reviewed and selected from 162 submissions. The papers discuss the frontiers of design and test of VLSI components, circuits and systems. They are organized in topical sections on VLSI design, testing and verification, embedded systems, emerging technology.Springer-Verlag KG, Sachsenplatz 4-6, 1201 Wien 404 pp. Englisch.
