Lingua: Inglese
Editore: LAP LAMBERT Academic Publishing, 2024
ISBN 10: 6207460421 ISBN 13: 9786207460427
Da: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.
Condizione: New.
Lingua: Inglese
Editore: LAP LAMBERT Academic Publishing, 2024
ISBN 10: 6207462033 ISBN 13: 9786207462032
Da: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.
Condizione: New.
Lingua: Inglese
Editore: LAP LAMBERT Academic Publishing, 2024
ISBN 10: 6207462033 ISBN 13: 9786207462032
Da: Mispah books, Redhill, SURRE, Regno Unito
EUR 258,98
Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrellopaperback. Condizione: New. NEW. SHIPS FROM MULTIPLE LOCATIONS. book.
Lingua: Inglese
Editore: LAP Lambert Academic Publishing, 2024
ISBN 10: 6207467981 ISBN 13: 9786207467983
Da: moluna, Greven, Germania
EUR 67,82
Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. The present research aims to develop an effective and applicable structural damage detection method. A damage identification approach using only the changes of measured natural frequencies is presented. The structural damage model is assumed to be associate.
Lingua: Inglese
Editore: LAP Lambert Academic Publishing, 2024
ISBN 10: 6207462033 ISBN 13: 9786207462032
Da: moluna, Greven, Germania
EUR 73,03
Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. The plan of current implanted frameworks is obliged by the necessities of present day installed applications. A considerable lot of these applications require not just supported operation for drawn out stretches of time, yet additionally to be executed on b.
Lingua: Inglese
Editore: LAP Lambert Academic Publishing, 2024
ISBN 10: 6207460421 ISBN 13: 9786207460427
Da: moluna, Greven, Germania
EUR 73,03
Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloKartoniert / Broschiert. Condizione: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Testing low power very large scale integrated (VLSI) circuits in the recent times has become a critical problem area due to yield and reliability problems. This research work lays emphasis on reducing power dissipation during test application at logic level.
Lingua: Inglese
Editore: LAP LAMBERT Academic Publishing, 2024
ISBN 10: 6207460421 ISBN 13: 9786207460427
Da: Majestic Books, Hounslow, Regno Unito
EUR 121,39
Quantità: 4 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. Print on Demand.
Lingua: Inglese
Editore: LAP LAMBERT Academic Publishing, 2024
ISBN 10: 6207462033 ISBN 13: 9786207462032
Da: Majestic Books, Hounslow, Regno Unito
EUR 123,72
Quantità: 4 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. Print on Demand.
Lingua: Inglese
Editore: LAP LAMBERT Academic Publishing, 2024
ISBN 10: 6207460421 ISBN 13: 9786207460427
Da: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Germania
EUR 123,28
Quantità: 4 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. PRINT ON DEMAND.
Lingua: Inglese
Editore: LAP LAMBERT Academic Publishing, 2024
ISBN 10: 6207462033 ISBN 13: 9786207462032
Da: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Germania
EUR 124,41
Quantità: 4 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. PRINT ON DEMAND.