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Valutazione venditore
-
Atomic Force Microscopy
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: New.
-
Atomic Force Microscopy
Lingua: Inglese
Editore: Springer Nature Switzerland AG, 2019
ISBN 10: 3030136531 ISBN 13: 9783030136536
Da: PBShop.store US, Wood Dale, IL, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
HRD. Condizione: New. New Book. Shipped from UK. Established seller since 2000.
-
Atomic Force Microscopy
Lingua: Inglese
Editore: Springer Nature Switzerland AG, 2019
ISBN 10: 3030136531 ISBN 13: 9783030136536
Da: PBShop.store UK, Fairford, GLOS, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 140,41
Spedizione EUR 5,79
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloHRD. Condizione: New. New Book. Shipped from UK. Established seller since 2000.
-
Atomic Force Microscopy
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 140,40
Spedizione EUR 17,31
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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Atomic Force Microscopy
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: As New. Unread book in perfect condition.
-
Atomic Force Microscopy (NanoScience and Technology)
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 147,75
Spedizione EUR 13,83
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. In.
-
Atomic Force Microscopy (NanoScience and Technology)
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 148,11
Spedizione EUR 13,83
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. In.
-
Atomic Force Microscopy
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 159,61
Spedizione EUR 17,31
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: As New. Unread book in perfect condition.
-
Scanning Probe Microscopy: Atomic Force Microscopy and Scanning Tunneling Microscopy (NanoScience and Technology)
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 171,52
Spedizione EUR 13,83
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. In.
-
Atomic Force Microscopy
Lingua: Inglese
Editore: Springer Nature Switzerland AG, CH, 2019
ISBN 10: 3030136531 ISBN 13: 9783030136536
Da: Rarewaves.com USA, London, LONDO, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 200,19
Spedizione gratuita
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloHardback. Condizione: New. Second Edition 2019.
-
Atomic Force Microscopy
Lingua: Inglese
Editore: Springer International Publishing, 2019
ISBN 10: 3030136531 ISBN 13: 9783030136536
EUR 161,54
Spedizione EUR 48,99
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. Offers a full color pedagogic approach to atomic force microscopyPresents the fundamentals of the technique in detailDiscusses related technical aspects in depthProf. Dr. rer. nat. Bert Voigtlaender studied Physics at the Univ.
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Scanning Probe Microscopy
Lingua: Inglese
Editore: Springer Berlin Heidelberg, 2016
ISBN 10: 3662505576 ISBN 13: 9783662505571
EUR 162,51
Spedizione EUR 48,99
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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Scanning Probe Microscopy
Lingua: Inglese
Editore: Springer Berlin Heidelberg, 2015
ISBN 10: 3662452391 ISBN 13: 9783662452394
EUR 162,51
Spedizione EUR 48,99
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
-
EUR 150,30
Spedizione EUR 70,00
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 5 disponibili
Aggiungi al carrelloTaschenbuch. Condizione: Neu. Atomic Force Microscopy | Bert Voigtländer | Taschenbuch | xiv | Englisch | 2020 | Springer | EAN 9783030136567 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
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Atomic Force Microscopy (NanoScience and Technology)
Da: Mispah books, Redhill, SURRE, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 206,83
Spedizione EUR 28,85
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: New. NEW. SHIPS FROM MULTIPLE LOCATIONS. book.
-
Atomic Force Microscopy
Lingua: Inglese
Editore: Springer, Springer International Publishing, 2019
ISBN 10: 3030136531 ISBN 13: 9783030136536
EUR 171,19
Spedizione EUR 63,44
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloBuch. Condizione: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book explains the operating principles of atomic force microscopy with the aim of enabling the reader to operate a scanning probe microscope successfully and understand the data obtained with the microscope. This enhanced second edition to 'Scanning Probe Microscopy' (Springer, 2015)represents a substantial extension andrevision to the part on atomic force microscopy of the previous book. Covering both fundamental and important technical aspects of atomic force microscopy, this book concentrates on the principles the methods using a didactic approach in an easily digestible manner.Whileprimarily aimed at graduate students in physics, materials science, chemistry, nanoscience and engineering, this bookis also usefulfor professionals and newcomers in the field, and is an ideal reference book in any atomic force microscopy lab.
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Atomic Force Microscopy
Lingua: Inglese
Editore: Springer International Publishing, Springer Nature Switzerland, 2020
ISBN 10: 3030136566 ISBN 13: 9783030136567
EUR 171,19
Spedizione EUR 62,64
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloTaschenbuch. Condizione: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book explains the operating principles of atomic force microscopy with the aim of enabling the reader to operate a scanning probe microscope successfully and understand the data obtained with the microscope. This enhanced second edition to 'Scanning Probe Microscopy' (Springer, 2015)represents a substantial extension andrevision to the part on atomic force microscopy of the previous book. Covering both fundamental and important technical aspects of atomic force microscopy, this book concentrates on the principles the methods using a didactic approach in an easily digestible manner.Whileprimarily aimed at graduate students in physics, materials science, chemistry, nanoscience and engineering, this bookis also usefulfor professionals and newcomers in the field, and is an ideal reference book in any atomic force microscopy lab.
-
Atomic Force Microscopy
Lingua: Inglese
Editore: Springer International Publishing, Springer International Publishing Aug 2020, 2020
ISBN 10: 3030136566 ISBN 13: 9783030136567
Da: buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Germania
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 171,19
Spedizione EUR 60,00
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloTaschenbuch. Condizione: Neu. Neuware -This book explains the operating principles of atomic force microscopy with the aim of enabling the reader to operate a scanning probe microscope successfully and understand the data obtained with the microscope. This enhanced second edition to 'Scanning Probe Microscopy' (Springer, 2015) represents a substantial extension and revision to the part on atomic force microscopy of the previous book. Covering both fundamental and important technical aspects of atomic force microscopy, this book concentrates on the principles the methods using a didactic approach in an easily digestible manner. While primarily aimed at graduate students in physics, materials science, chemistry, nanoscience and engineering, this book is also useful for professionals and newcomers in the field, and is an ideal reference book in any atomic force microscopy lab.Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg 348 pp. Englisch.
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Atomic Force Microscopy
Lingua: Inglese
Editore: Springer International Publishing, Springer International Publishing Jun 2019, 2019
ISBN 10: 3030136531 ISBN 13: 9783030136536
Da: buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Germania
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 171,19
Spedizione EUR 60,00
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloBuch. Condizione: Neu. Neuware -This book explains the operating principles of atomic force microscopy with the aim of enabling the reader to operate a scanning probe microscope successfully and understand the data obtained with the microscope. This enhanced second edition to 'Scanning Probe Microscopy' (Springer, 2015) represents a substantial extension and revision to the part on atomic force microscopy of the previous book. Covering both fundamental and important technical aspects of atomic force microscopy, this book concentrates on the principles the methods using a didactic approach in an easily digestible manner. While primarily aimed at graduate students in physics, materials science, chemistry, nanoscience and engineering, this book is also useful for professionals and newcomers in the field, and is an ideal reference book in any atomic force microscopy lab.Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg 348 pp. Englisch.
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EUR 168,50
Spedizione EUR 70,00
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 5 disponibili
Aggiungi al carrelloTaschenbuch. Condizione: Neu. Scanning Probe Microscopy | Atomic Force Microscopy and Scanning Tunneling Microscopy | Bert Voigtländer | Taschenbuch | xv | Englisch | 2016 | Springer | EAN 9783662505571 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
-
EUR 178,55
Spedizione EUR 70,00
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloBuch. Condizione: Neu. Atomic Force Microscopy | Bert Voigtländer | Buch | xiv | Englisch | 2019 | Springer | EAN 9783030136536 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
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Atomic Force Microscopy
Da: Revaluation Books, Exeter, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 248,04
Spedizione EUR 14,43
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloPaperback. Condizione: Brand New. 2nd edition. 348 pages. 9.25x6.10x0.82 inches. In Stock.
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EUR 192,59
Spedizione EUR 63,82
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloBuch. Condizione: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book explains the operating principles of atomic force microscopy and scanning tunneling microscopy. The aim of this book is to enable the reader to operate a scanning probe microscope successfully and understand the data obtained with the microscope. The chapters on the scanning probe techniques are complemented by the chapters on fundamentals and important technical aspects. This textbook is primarily aimed at graduate students from physics, materials science, chemistry, nanoscience and engineering, as well as researchers new to the field.
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Scanning Probe Microscopy : Atomic Force Microscopy and Scanning Tunneling Microscopy
Lingua: Inglese
Editore: Springer Berlin Heidelberg, Springer Berlin Heidelberg, 2016
ISBN 10: 3662505576 ISBN 13: 9783662505571
EUR 192,59
Spedizione EUR 63,02
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloTaschenbuch. Condizione: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book explains the operating principles of atomic force microscopy and scanning tunneling microscopy. The aim of this book is to enable the reader to operate a scanning probe microscope successfully and understand the data obtained with the microscope. The chapters on the scanning probe techniques are complemented by the chapters on fundamentals and important technical aspects. This textbook is primarily aimed at graduate students from physics, materials science, chemistry, nanoscience and engineering, as well as researchers new to the field.
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Atomic Force Microscopy
Da: Revaluation Books, Exeter, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 250,08
Spedizione EUR 14,43
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: Brand New. 2nd ed. 2019 edition. 348 pages. 9.25x6.10x0.94 inches. In Stock.
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Atomic Force Microscopy
Lingua: Inglese
Editore: Springer Nature Switzerland AG, CH, 2019
ISBN 10: 3030136531 ISBN 13: 9783030136536
Da: Rarewaves.com UK, London, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 185,57
Spedizione EUR 75,01
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloHardback. Condizione: New. Second Edition 2019.
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Scanning Probe Microscopy
Lingua: Inglese
Editore: Springer Berlin Heidelberg, Springer Berlin Heidelberg Okt 2016, 2016
ISBN 10: 3662505576 ISBN 13: 9783662505571
Da: buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Germania
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 192,59
Spedizione EUR 60,00
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloTaschenbuch. Condizione: Neu. Neuware -This book explains the operating principles of atomic force microscopy and scanning tunneling microscopy. The aim of this book is to enable the reader to operate a scanning probe microscope successfully and understand the data obtained with the microscope. The chapters on the scanning probe techniques are complemented by the chapters on fundamentals and important technical aspects. This textbook is primarily aimed at graduate students from physics, materials science, chemistry, nanoscience and engineering, as well as researchers new to the field.Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg 400 pp. Englisch.
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Scanning Probe Microscopy
Lingua: Inglese
Editore: Springer Berlin Heidelberg, Springer Berlin Heidelberg Mär 2015, 2015
ISBN 10: 3662452391 ISBN 13: 9783662452394
Da: buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Germania
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 192,59
Spedizione EUR 60,00
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloBuch. Condizione: Neu. Neuware -This book explains the operating principles of atomic force microscopy and scanning tunneling microscopy. The aim of this book is to enable the reader to operate a scanning probe microscope successfully and understand the data obtained with the microscope. The chapters on the scanning probe techniques are complemented by the chapters on fundamentals and important technical aspects. This textbook is primarily aimed at graduate students from physics, materials science, chemistry, nanoscience and engineering, as well as researchers new to the field.Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg 400 pp. Englisch.
-
Scanning Probe Microscopy: Atomic Force Microscopy and Scanning Tunneling Microscopy (NanoScience and Technology)
Da: Mispah books, Redhill, SURRE, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 267,45
Spedizione EUR 28,85
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloPaperback. Condizione: Like New. LIKE NEW. SHIPS FROM MULTIPLE LOCATIONS. book.
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Scanning Probe Microscopy: Atomic Force Microscopy and Scanning Tunneling Microscopy
Da: Revaluation Books, Exeter, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 275,80
Spedizione EUR 40,39
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloPaperback. Condizione: Brand New. reprint edition. 397 pages. 9.00x6.00x1.00 inches. In Stock.
