Watanabe sakurai (37 risultati)
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Editore: Rings, china, 1994
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[Magazine] Book Story Volume 49 June 1999
Special feature: The world's best reading of the academic spirit - Arashiyama Kouzaburo Yoko Ogawa Yoshiko Sakurai Shoichi Watanabe etc. Written by: Hiroyuki Kurokawa Haruki Murakami Satoru Saibu et.
Editore: Bungeishunju, 1999
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Editore: The Yomiuri Shimbun, 1957
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Taschenbuch. Condizione: Neu. Advances in Scanning Probe Microscopy | T. Sakurai (u. a.) | Taschenbuch | Advances in Materials Research | xiv | Englisch | 2012 | Springer | EAN 9783642630842 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com |…Anbieter: preigu.
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Hardcover. Condizione: Brand New. 1st edition. 341 pages. 9.75x6.50x0.75 inches. In Stock.
Lingua: Inglese
Editore: Springer Berlin Heidelberg, Springer Berlin Heidelberg, 2000
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Buch. Condizione: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - There have been many books published on scanning tunneling microscopy (STM), atomic force microscopy (AFM) and related subjects since Dr. Cerd Binnig and Dr. Heinrich Rohrer invented STM in 1982 and AFM in 1986 at IBM Research Center in Zurich, Switzerla…nd. These two techniques, STM and AFM, now form the core of what has come to be called the 'scanning probe microscopy (SPM)' family. SPM is not just the most powerful microscope for scientists to image atoms on surfaces, but is also becoming an indispensable tool for manipulating atoms and molecules to construct man-made materials and devices. Its impact has been felt in various fields, from surface physics and chemistry to nano-mechanics, nano-electronics and medical science. Its influence will surely extend further as the years go by, beyond the reach of our present imagination, and new research applications will continue to emerge. This book, therefore, is not intended to be a comprehensive review or textbook on SPM. Its aim is to cover only a selected part of the active re search fields of SPM and related topics in which I have been directly involved over the years. These include the basic principles of STM and AFM, and their applications to fullerene film growth, SiC surface reconstructions, MBE (molecular beam epitaxy) growth of CaAs, atomic scale manipulation of Si surfaces and meso scopic work function.
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Taschenbuch. Condizione: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - There have been many books published on scanning tunneling microscopy (STM), atomic force microscopy (AFM) and related subjects since Dr. Cerd Binnig and Dr. Heinrich Rohrer invented STM in 1982 and AFM in 1986 at IBM Research Center in Zurich, Sw…itzerland. These two techniques, STM and AFM, now form the core of what has come to be called the 'scanning probe microscopy (SPM)' family. SPM is not just the most powerful microscope for scientists to image atoms on surfaces, but is also becoming an indispensable tool for manipulating atoms and molecules to construct man-made materials and devices. Its impact has been felt in various fields, from surface physics and chemistry to nano-mechanics, nano-electronics and medical science. Its influence will surely extend further as the years go by, beyond the reach of our present imagination, and new research applications will continue to emerge. This book, therefore, is not intended to be a comprehensive review or textbook on SPM. Its aim is to cover only a selected part of the active re search fields of SPM and related topics in which I have been directly involved over the years. These include the basic principles of STM and AFM, and their applications to fullerene film growth, SiC surface reconstructions, MBE (molecular beam epitaxy) growth of CaAs, atomic scale manipulation of Si surfaces and meso scopic work function.
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Condizione: gut. Advances in scanning probe microscopy. (= Springer series in advances in materials research - Volume 2). In deutscher Sprache. pages.
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Hardcover. Condizione: Very Good. No Jacket. 1st Edition. 2012.Hardcover.Very good condition.469 pages.Includes 97 papers.Ships from Japan.Usually ships in 1-2 working days.
Panoramic mag quarterly Vol.16 Special feature Dance Vol.18 Special feature Wind Vol.19 Special feature Feast Vol.21 Special feature Fire Past and Present Vol.22 Special feature Play Vol.23 Special fe.
Gunji M.; Ichikawa M.; Yamaguchi M.; Watanabe T.; Sakurai Y.; Aoki T.; Kudo T.; Kimase S.; Takahashi H.; Ura M.; Oda S.; Ichikawa H.; Furusawa S.; Nakamura N.; Unno H.; Ikezawa Y.; Koike K.; Ueda M.
Editore: Pola Cultural Research Institute, 1982
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Editore: POLA Cultural Research Institute, 1982
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Editore: POLA Cultural Research Institute, 1982
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Buch. Condizione: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -There have been many books published on scanning tunneling microscopy (STM), atomic force microscopy (AFM) and related subjects since Dr. Cerd Binnig and Dr. Heinrich Rohrer invented STM in 1982 and AFM in 1986 at IBM Research Center in Z…urich, Switzerland. These two techniques, STM and AFM, now form the core of what has come to be called the 'scanning probe microscopy (SPM)' family. SPM is not just the most powerful microscope for scientists to image atoms on surfaces, but is also becoming an indispensable tool for manipulating atoms and molecules to construct man-made materials and devices. Its impact has been felt in various fields, from surface physics and chemistry to nano-mechanics, nano-electronics and medical science. Its influence will surely extend further as the years go by, beyond the reach of our present imagination, and new research applications will continue to emerge. This book, therefore, is not intended to be a comprehensive review or textbook on SPM. Its aim is to cover only a selected part of the active re search fields of SPM and related topics in which I have been directly involved over the years. These include the basic principles of STM and AFM, and their applications to fullerene film growth, SiC surface reconstructions, MBE (molecular beam epitaxy) growth of CaAs, atomic scale manipulation of Si surfaces and meso scopic work function. 360 pp. Englisch.
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