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Theory and Practice of Field Emission Scanning Electron Microscopy(Chinese Edition)
Editore: Posts and Telecommunications Press, 2024
ISBN 10: 7115631956 ISBN 13: 9787115631954
Lingua: Inglese
EUR 93,02
Convertire valutaEUR 15,34 per la spedizione da Cina a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrellopaperback. Condizione: New. Language:Chinese.Paperback. Pub Date: 2024-04 Pages: 212 Publisher: People's Posts and Telecommunications Press The emergence of field emission scanning electron microscopes marks the entry of scanning electron microscopes into a new era. Scanning electron microscope technology has made great progress. The application of new technologies such as new electrons. immersion objectives. through-mirror secondary electron detectors. simulated backscatter. e×b and electron beam deceleration h.
