Importo totale (1 articolo articoli):
Destinazione ordine:
9780128007471 - Reliability Prediction from Burn-In Data Fit to Reliability Models di Bernstein, Joseph B. (20 risultati)
Vai alla pagina principale dei risultati di ricerca
Filtri di ricerca
Tipo di articolo
- Tutti i tipi di prodotto
- Libri (20)
- Riviste e Giornali (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Fumetti (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Spartiti (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Arte, Stampe e Poster (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Fotografie (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Mappe (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Manoscritti e Collezionismo cartaceo (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
Condizioni Maggiori informazioni
- Nuovo (17)
- Come nuovo, Ottimo o Quasi ottimo (2)
- Molto buono o Buono (1)
- Discreto o Mediocre (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Come descritto (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
Legatura
- Tutte
- Rilegato (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Brossura (20)
Ulteriori caratteristiche
- Prima ed. (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Copia autograf. (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Sovracoperta (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Con foto (6)
- Non Print on Demand (15)
Lingua (1)
Prezzo
- Qualsiasi prezzo
- Inferiore a EUR 20 (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- EUR 20 a EUR 45 (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Superiore a EUR 45
Spedizione gratuita
Paese del venditore
Valutazione venditore
-
Reliability Prediction from Burn-In Data Fit to Reliability Models
Lingua: Inglese
Editore: Elsevier Science & Technology, 2014
ISBN 10: 0128007478 ISBN 13: 9780128007471
Da: Better World Books: West, Reno, NV, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: Good. Former library copy. Pages intact with minimal writing/highlighting. The binding may be loose and creased. Dust jackets/supplements are not included. Includes library markings. Stock photo provided. Product includes identifying sticker. Better World Books: Buy Books. Do Good.
-
Reliability Prediction from Burn-In Data Fit to Reliability Models
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 60,83
Spedizione EUR 2,28
Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
-
Reliability Prediction from Burn-In Data Fit to Reliability Models
Da: Majestic Books, Hounslow, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 55,46
Spedizione EUR 7,53
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 3 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. pp. 108 23:B&W 6 x 9 in or 229 x 152 mm Perfect Bound on White w/Gloss Lam.
-
Reliability Prediction from Burn-In Data Fit to Reliability Models
Da: Chiron Media, Wallingford, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 45,61
Spedizione EUR 17,95
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloPaperback. Condizione: New.
-
Reliability Prediction from Burn-In Data Fit to Reliability Models
Da: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
Condizione: New. pp. 108.
-
Reliability Prediction from Burn-In Data Fit to Reliability Models
Lingua: Inglese
Editore: Elsevier Science Publishing Co Inc, US, 2014
ISBN 10: 0128007478 ISBN 13: 9780128007471
Da: Rarewaves.com USA, London, LONDO, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 70,16
Spedizione gratuita
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloPaperback. Condizione: New. This work will educate chip and system designers on a method for accurately predicting circuit and system reliability in order to estimate failures that will occur in the field as a function of operating conditions at the chip level. This book will combine the knowledge taught in many reliability publications and illustrate how to use the knowledge presented by the semiconductor manufacturing companies in combination with the HTOL end-of-life testing that is currently performed by the chip suppliers as part of their standard qualification procedure and make accurate reliability predictions. This book will allow chip designers to predict FIT and DPPM values as a function of operating conditions and chip temperature so that users ultimately will have control of reliability in their design so the reliability and performance will be considered concurrently with their design.
-
Reliability Prediction from Burn-In Data Fit to Reliability Models
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 69,46
Spedizione EUR 2,28
Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: As New. Unread book in perfect condition.
-
Reliability Prediction from Burn-In Data Fit to Reliability Models
Lingua: Inglese
Editore: Elsevier Science Publishing Co Inc, 2014
ISBN 10: 0128007478 ISBN 13: 9780128007471
Da: THE SAINT BOOKSTORE, Southport, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 58,13
Spedizione EUR 14,64
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloPaperback / softback. Condizione: New. New copy - Usually dispatched within 4 working days.
-
Reliability Prediction from Burn-In Data Fit to Reliability Models
Da: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Germania
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 62,51
Spedizione EUR 9,95
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 3 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. pp. 108.
-
Reliability Prediction from Burn-In Data Fit to Reliability Models
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 64,38
Spedizione EUR 13,88
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. In.
-
Reliability Prediction from Burn-In Data Fit to Reliability Models
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 61,12
Spedizione EUR 17,38
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
-
Reliability Prediction from Burn-In Data Fit to Reliability Models
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 72,69
Spedizione EUR 17,38
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: As New. Unread book in perfect condition.
-
EUR 70,21
Spedizione EUR 48,99
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloKartoniert / Broschiert. Condizione: New. The ability to include reliability calculations and test results in their product design The ability to use reliability data provided to them by their suppliers to make meaningful reliability predictions Have accurate failure rate.
-
Reliability Prediction from Burn-In Data Fit to Reliability Models
Lingua: Inglese
Editore: Elsevier Science Publishing Co Inc, US, 2014
ISBN 10: 0128007478 ISBN 13: 9780128007471
Da: Rarewaves.com UK, London, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 65,46
Spedizione EUR 75,31
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloPaperback. Condizione: New. This work will educate chip and system designers on a method for accurately predicting circuit and system reliability in order to estimate failures that will occur in the field as a function of operating conditions at the chip level. This book will combine the knowledge taught in many reliability publications and illustrate how to use the knowledge presented by the semiconductor manufacturing companies in combination with the HTOL end-of-life testing that is currently performed by the chip suppliers as part of their standard qualification procedure and make accurate reliability predictions. This book will allow chip designers to predict FIT and DPPM values as a function of operating conditions and chip temperature so that users ultimately will have control of reliability in their design so the reliability and performance will be considered concurrently with their design.
-
EUR 141,30
Spedizione EUR 70,00
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 5 disponibili
Aggiungi al carrelloTaschenbuch. Condizione: Neu. Reliability Prediction from Burn-In Data Fit to Reliability Models | Joseph Bernstein | Taschenbuch | Einband - fest (Hardcover) | Englisch | 2014 | Elsevier Inc | EAN 9780128007471 | Verantwortliche Person für die EU: Zeitfracht Medien GmbH, Ferdinand-Jühlke-Str. 7, 99095 Erfurt, produktsicherheit[at]zeitfracht[dot]de | Anbieter: preigu.
-
Reliability Prediction from Burn-In Data Fit to Reliability Models
Da: Brook Bookstore On Demand, Napoli, NA, Italia
Valutazione del venditore 3 su 5 stelle
EUR 48,01
Spedizione EUR 4,00
Spedito da Italia a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: new. Questo è un articolo print on demand.
-
Reliability Prediction from Burn-In Data Fit to Reliability Models
Da: Revaluation Books, Exeter, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 49,76
Spedizione EUR 11,59
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloPaperback. Condizione: Brand New. 97 pages. 8.75x6.00x0.50 inches. In Stock. This item is printed on demand.
-
Reliability Prediction from Burn-In Data Fit to Reliability Models
Lingua: Inglese
Editore: Elsevier Science Publishing Co Inc, 2014
ISBN 10: 0128007478 ISBN 13: 9780128007471
Da: THE SAINT BOOKSTORE, Southport, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 76,69
Spedizione EUR 14,64
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloPaperback / softback. Condizione: New. This item is printed on demand. New copy - Usually dispatched within 5-9 working days.
-
Reliability Prediction from Burn-In Data Fit to Reliability Models
Lingua: Inglese
Editore: Elsevier Science & Technology, Academic Press, 2014
ISBN 10: 0128007478 ISBN 13: 9780128007471
EUR 94,12
Spedizione EUR 60,95
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloTaschenbuch. Condizione: Neu. nach der Bestellung gedruckt Neuware - Printed after ordering - This work will educate chip and system designers on a method for accurately predicting circuit and system reliability in order to estimate failures that will occur in the field as a function of operating conditions at the chip level. This book will combine the knowledge taught in many reliability publications and illustrate how to use the knowledge presented by the semiconductor manufacturing companies in combination with the HTOL end-of-life testing that is currently performed by the chip suppliers as part of their standard qualification procedure and make accurate reliability predictions. This book will allow chip designers to predict FIT and DPPM values as a function of operating conditions and chip temperature so that users ultimately will have control of reliability in their design so the reliability and performance will be considered concurrently with their design.
-
Reliability Prediction from Burn-In Data Fit to Reliability Models
Lingua: Inglese
Editore: Elsevier Science & Technology, Academic Press, 2014
ISBN 10: 0128007478 ISBN 13: 9780128007471
Da: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, Germania
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 150,00
Spedizione EUR 23,00
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloTaschenbuch. Condizione: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -This work will educate chip and system designers on a method for accurately predicting circuit and system reliability in order to estimate failures that will occur in the field as a function of operating conditions at the chip level. This book will combine the knowledge taught in many reliability publications and illustrate how to use the knowledge presented by the semiconductor manufacturing companies in combination with the HTOL end-of-life testing that is currently performed by the chip suppliers as part of their standard qualification procedure and make accurate reliability predictions. This book will allow chip designers to predict FIT and DPPM values as a function of operating conditions and chip temperature so that users ultimately will have control of reliability in their design so the reliability and performance will be considered concurrently with their design. Englisch.
