9780128007471 - reliability prediction from burn-in data fit to reliability models di bernstein, joseph b. (21 risultati)
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Taschenbuch. Condizione: Neu. Reliability Prediction from Burn-In Data Fit to Reliability Models | Joseph Bernstein | Taschenbuch | Einband - flex.(Paperback) | Englisch | 2014 | Elsevier Inc | EAN 9780128007471 | Verantwortliche Person für die EU: Zeitfracht Medien GmbH, Ferdinand-Jühlke-Str. 7, 99095 Erfurt, produktsicherheit[…at]zeitfracht[dot]de | Anbieter: preigu.
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Taschenbuch. Condizione: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -This work will educate chip and system designers on a method for accurately predicting circuit and system reliability in order to estimate failures that will occur in the field as a function of operating conditions at the chip leve…l. This book will combine the knowledge taught in many reliability publications and illustrate how to use the knowledge presented by the semiconductor manufacturing companies in combination with the HTOL end-of-life testing that is currently performed by the chip suppliers as part of their standard qualification procedure and make accurate reliability predictions. This book will allow chip designers to predict FIT and DPPM values as a function of operating conditions and chip temperature so that users ultimately will have control of reliability in their design so the reliability and performance will be considered concurrently with their design. 108 pp. Englisch.
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