9780262060967 - logic testing and design for testability di fujiwara, hideo (2 risultati)

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    • Lingua: Inglese

      Editore: MIT Press 1985

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      gebundene Ausgabe. Condizione: Gut. 284 Seiten; Der Erhaltungszustand des hier angebotenen Werks ist trotz seiner Bibliotheksnutzung sauber. Es befindet sich neben dem Rückenschild lediglich ein Bibliotheksstempel im Buch; ordnungsgemäß entwidmet. In ENGLISCHER Sprache. Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 550.

    • Lingua: Inglese

      Editore: The MIT Press 1985

      0262060965 / 9780262060967

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