Importo totale (1 articolo articoli):
Destinazione ordine:
9780306418389 - Applications of X-Ray Topographic Methods to Materials Science di Weissmann, Sigmund; Balibar, Francoise (3 risultati)
Vai alla pagina principale dei risultati di ricerca
Filtri di ricerca
Tipo di articolo
- Tutti i tipi di prodotto
- Libri (3)
- Riviste e Giornali (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Fumetti (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Spartiti (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Arte, Stampe e Poster (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Fotografie (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Mappe (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Manoscritti e Collezionismo cartaceo (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
Condizioni Maggiori informazioni
- Nuovo (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Come nuovo, Ottimo o Quasi ottimo (1)
- Molto buono o Buono (1)
- Discreto o Mediocre (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Come descritto (1)
Legatura
- Tutte
- Rilegato (3)
- Brossura (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
Ulteriori caratteristiche
- Prima ed. (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Copia autograf. (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Sovracoperta (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Con foto (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Non Print on Demand (3)
Lingua (1)
Prezzo
- Qualsiasi prezzo
- Inferiore a EUR 20 (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- EUR 20 a EUR 45
- Superiore a EUR 45
Spedizione gratuita
- Spedizione gratuita in U.S.A. (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
Paese del venditore
Valutazione venditore
-
Applications of X-Ray Topographic Methods to Materials Science
Da: Crossroad Books, Eau Claire, WI, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Hardcover. Condizione: with no dust jacket. Condizione sovraccoperta: No Dust Jacket. Ex-Corporate Library copy; with typical markings. Library label on front board and on spine tail. Slight spine twist. ; TEH22A; 536 pages; Ex-Library.
-
EUR 52,99
Spedizione EUR 16,50
Spedito da Francia a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: Très bon. Couverture différente. Edition 1984. Ammareal reverse jusqu'à 15% du prix net de cet article à des organisations caritatives. ENGLISH DESCRIPTION Book Condition: Used, Very good. Different cover. Edition 1984. Ammareal gives back up to 15% of this item's net price to charity organizations.
-
Applications of X-Ray Topographic Methods to Materials Science
Da: BookDepart, Shepherdstown, WV, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Hardcover. Condizione: UsedGood. Hardcover; fading and shelf wear to exterior; small chip on spine; former owner's stamping on front endpaper; otherwise in good condition with clean text, firm binding.
