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9780306445712 - Advances in X-Ray Analysis: Volume 36 di Gilfrich, John V.; Huang, Ting C. (10 risultati)
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Advances in X-Ray Analysis, Vol. 36
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 93,45
Spedizione EUR 13,85
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
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EUR 104,18
Spedizione EUR 48,99
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Aggiungi al carrelloGebunden. Condizione: New. Mathematical Techniques in XRay Spectrometry: Research in the Quantitative Analysis of Individual Particles by XRay Fluorescence Spectrometry (M. Lankosz et al.). Analysis of Light Elements by XRay Spectrometry: XRFA of Carbon in Steels (F. Weber et al.). X.
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EUR 94,48
Spedizione EUR 67,57
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloBuch. Condizione: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Mathematical Techniques in XRay Spectrometry: Research in the Quantitative Analysis of Individual Particles by XRay Fluorescence Spectrometry (M. Lankosz et al.). Analysis of Light Elements by XRay Spectrometry: XRFA of Carbon in Steels (F. Weber et al.). XRS Techniques and Instrumentation: Diffraction Peaks in XRay Spectroscopy (R.G.Tissot, R.P. Goehner). OnLine, Industrial, and Other Applications of XRS: Application of XRF in the Aluminum Industry (F.R. Feret). XRay Characterization of Thin Films: Grazing Incidence XRay Characterization of Materials (D.K. Bowen, M. Wormington). WholePattern Fitting, Phase Analysis by Diffraction Methods: Phase Identification Using WholePattern Matching (D.K. Smith et al.). Polymer Applications of XRD. HighTemperature and NonAmbient Applications of XRD. Stress and Strain Determination by Diffraction Methods, Peak Broadening Analysis. XRD Techniques and Instrumentation. 71 additional articles. Index.
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Advances in X-Ray Analysis: Vol 36
Da: Revaluation Books, Exeter, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 149,37
Spedizione EUR 17,35
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: Brand New. 712 pages. 10.50x7.50x1.50 inches. In Stock.
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Advances in X-Ray Analysis, Vol. 36
Da: Zubal-Books, Since 1961, Cleveland, OH, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: Good. 710 pp., hardcover, ex library, else text and binding clean and tight. - If you are reading this, this item is actually (physically) in our stock and ready for shipment once ordered. We are not bookjackers. Buyer is responsible for any additional duties, taxes, or fees required by recipient's country. Photos available upon request.
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Proceedings of the Forty-first Annual Conference Held in Colorado Springs, Colorado, August 3-7, 1992 (v. 36) (Advances in X-ray Analysis)
Da: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
Condizione: New.
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Proceedings of the Forty-first Annual Conference Held in Colorado Springs, Colorado, August 3-7, 1992 (v. 36) (Advances in X-ray Analysis)
Da: Majestic Books, Hounslow, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 179,27
Spedizione EUR 7,52
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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Advances in X-Ray Analysis, Vol. 36
Da: Mispah books, Redhill, SURRE, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 244,16
Spedizione EUR 28,91
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: Like New. LIKE NEW. SHIPS FROM MULTIPLE LOCATIONS. book.
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Advances in X-Ray Analysis
Da: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, Germania
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 85,55
Spedizione EUR 23,00
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloBuch. Condizione: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Mathematical Techniques in XRay Spectrometry: Research in the Quantitative Analysis of Individual Particles by XRay Fluorescence Spectrometry (M. Lankosz et al.). Analysis of Light Elements by XRay Spectrometry: XRFA of Carbon in Steels (F. Weber et al.). XRS Techniques and Instrumentation: Diffraction Peaks in XRay Spectroscopy (R.G.Tissot, R.P. Goehner). OnLine, Industrial, and Other Applications of XRS: Application of XRF in the Aluminum Industry (F.R. Feret). XRay Characterization of Thin Films: Grazing Incidence XRay Characterization of Materials (D.K. Bowen, M. Wormington). WholePattern Fitting, Phase Analysis by Diffraction Methods: Phase Identification Using WholePattern Matching (D.K. Smith et al.). Polymer Applications of XRD. HighTemperature and NonAmbient Applications of XRD. Stress and Strain Determination by Diffraction Methods, Peak Broadening Analysis. XRD Techniques and Instrumentation. 71 additional articles. Index. 712 pp. Englisch.
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Advances in X-ray Analysis: v. 36: Proceedings of the Forty-first Annual Conference Held in Colorado Springs, Colorado, August 3-7, 1992
Lingua: Inglese
Editore: Kluwer Academic Publishers Group, 1993
ISBN 10: 0306445719 ISBN 13: 9780306445712
Da: THE SAINT BOOKSTORE, Southport, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 108,56
Spedizione EUR 18,51
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