9780306449635 - surface infrared and raman spectroscopy: methods and applications: 3 di suëtaka, w. (18 risultati)
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Hardcover. 270 S. Ehem. Bibliotheksexemplar mit Bib.-Signatur und Stempel in GUTEM Zustand. Kaum Gebrauchsspuren. 9780306449635 Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 550.
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Buch. Condizione: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - are intended to fill the gap between a manufacturer's handbook, and review articles that highlight the latest scientific developments. A fourth volume will deal with techniques for specimen handling, beam artifacts, and depth profiling. It will provide a… compilation of methods that have proven useful for specimen handling and treatment, and it will also address the common artifacts and problems associated with the bombardment of solid sur faces by photons, electrons, and ions. A description will be given of methods for depth profiling. Surface characterization measurements are being used increasingly in di verse areas of science and technology. We hope that this series will be useful in ensuring that these measurements can be made as efficiently and reliably as possible. Comments on the series are welcomed, as are suggestions for volumes on additional topics. C. J. Powell Gaithersburg, Maryland A. W. Czandema Golden, Colorado D. M. Hercules Pittsburgh, Pennsylvania T. E. Madey New Brunswick, New Jersey J. T. Yates, Jr.
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Buch. Condizione: Neu. Surface Infrared and Raman Spectroscopy | Methods and Applications | W. Suëtaka | Buch | xiv | Englisch | 1995 | Springer US | EAN 9780306449635 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu Print…on Demand.
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Buch. Condizione: Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -are intended to fill the gap between a manufacturer's handbook, and review articles that highlight the latest scientific developments. A fourth volume will deal with techniques for specimen handling, beam artifacts, and depth profiling. It wi…ll provide a compilation of methods that have proven useful for specimen handling and treatment, and it will also address the common artifacts and problems associated with the bombardment of solid sur faces by photons, electrons, and ions. A description will be given of methods for depth profiling. Surface characterization measurements are being used increasingly in di verse areas of science and technology. We hope that this series will be useful in ensuring that these measurements can be made as efficiently and reliably as possible. Comments on the series are welcomed, as are suggestions for volumes on additional topics. C. J. Powell Gaithersburg, Maryland A. W. Czandema Golden, Colorado D. M. Hercules Pittsburgh, Pennsylvania T. E. Madey New Brunswick, New Jersey J. T. Yates, Jr.Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg 284 pp. Englisch.
