Isbn: 9780367554941 - characterization, testing, measurement, and metrology (17 risultati)

Characterization, Testing, Measurement and Metrology
Prakash, Chander (EDT); Singh, Sunpreet (EDT); Davim, J. Paulo (EDT)
Lingua: Inglese
Editore: CRC Press, 2024
- Brossura
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.GreatBookPrices
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Usato - Come nuovo
EUR 89,12
EUR 2,32 spedizioneSpedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Condizione: As New. Unread book in perfect condition.

Characterization, Testing, Measurement and Metrology
Prakash, Chander (EDT); Singh, Sunpreet (EDT); Davim, J. Paulo (EDT)
Lingua: Inglese
Editore: CRC Press, 2024
- Brossura
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.GreatBookPrices
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Nuovo
EUR 99,28
EUR 2,32 spedizioneSpedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Condizione: New.

Lingua: Inglese
Editore: Taylor & Francis Group, 2024
- Brossura
Da: Majestic Books, Hounslow, Regno UnitoMajestic Books
Contatta il venditoreVenditore con 4 stelleCondizione: Nuovo
EUR 93,89
EUR 7,55 spedizioneSpedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 3 disponibili
Condizione: New. pp. 192.

Characterization, Testing, Measurement and Metrology
Prakash, Chander (EDT); Singh, Sunpreet (EDT); Davim, J. Paulo (EDT)
Lingua: Inglese
Editore: CRC Press, 2024
- Brossura
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno UnitoGreatBookPricesUK
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Usato - Come nuovo
EUR 90,08
EUR 17,42 spedizioneSpedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Condizione: As New. Unread book in perfect condition.

Lingua: Inglese
Editore: CRC Press, 2024
- Brossura
Da: PBShop.store US, Wood Dale, IL, U.S.A.PBShop.store US
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Nuovo
EUR 109,45
Spedizione gratuitaSpedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
PAP. Condizione: New. New Book. Shipped from UK. Established seller since 2000.

Lingua: Inglese
Editore: Taylor & Francis Group, 2024
- Brossura
Da: Books Puddle, Woodside, NY, U.S.A.Books Puddle
Contatta il venditoreVenditore con 4 stelleCondizione: Nuovo
EUR 105,84
EUR 3,51 spedizioneSpedito in U.S.A.Quantità: 3 disponibili
Condizione: New. pp. 192 1st edition NO-PA16APR2015-KAP.

Lingua: Inglese
Editore: CRC Press, 2024
- Brossura
Da: California Books, Miami, FL, U.S.A.California Books
Contatta il venditoreVenditore con 4 stelleCondizione: Nuovo
EUR 110,48
Spedizione gratuitaSpedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Condizione: New.

Characterization, Testing, Measurement and Metrology
Prakash, Chander (EDT); Singh, Sunpreet (EDT); Davim, J. Paulo (EDT)
Lingua: Inglese
Editore: CRC Press, 2024
- Brossura
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno UnitoGreatBookPricesUK
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Nuovo
EUR 91,43
EUR 17,42 spedizioneSpedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Condizione: New.

Lingua: Inglese
Editore: Taylor & Francis Ltd, 2024
- Brossura
Da: THE SAINT BOOKSTORE, Southport, Regno UnitoTHE SAINT BOOKSTORE
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Nuovo
EUR 91,44
EUR 16,90 spedizioneSpedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Paperback / softback. Condizione: New. New copy - Usually dispatched within 4 working days.

Lingua: Inglese
Editore: CRC Press, 2024
- Brossura
Da: PBShop.store UK, Fairford, GLOS, Regno UnitoPBShop.store UK
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Nuovo
EUR 105,06
EUR 4,83 spedizioneSpedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
PAP. Condizione: New. New Book. Shipped from UK. Established seller since 2000.

Lingua: Inglese
Editore: Taylor & Francis Group, 2024
- Brossura
Da: Biblios, frankfurt am main, HESSE, GermaniaBiblios
Contatta il venditoreVenditore con 4 stelleCondizione: Nuovo
EUR 106,02
EUR 9,95 spedizioneSpedito da Germania a U.S.A.Quantità: 3 disponibili
Condizione: New. pp. 192.

Lingua: Inglese
Editore: CRC Press, 2024
- Brossura
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno UnitoRia Christie Collections
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Nuovo
EUR 113,98
EUR 10,88 spedizioneSpedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Condizione: New. In English.

Lingua: Inglese
Editore: Taylor and Francis Ltd, GB, 2024
- Brossura
Da: Rarewaves.com USA, London, LONDO, Regno UnitoRarewaves.com USA
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Nuovo
EUR 129,38
Spedizione gratuitaSpedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Paperback. Condizione: New. This book presents the broad aspects of measurement, performanceanalysis, and characterization for materials and devices through advanced manufacturing processes. The field of measurement and metrology as a precondition for maintaining high-quality products, devices, and systems in materials and advanced manufacturing process applications has grown substantially in recent years.The focus of this book is to present smart materials in numerous technological sectors such as automotive, bio-manufacturing, chemical, electronics, energy, and construction. Advanced materials have novel properties and therefore must be fully characterized and studied in-depth so they can be incorporated into products that will outperform existing products and resolve current problems.The book captures the emerging areas of materials science and advanced manufacturing engineering and presents recent trends in research for researchers, field engineers, and academic professionals.…

Characterization, Testing, Measurement and Metrology
Prakash, Chander (Editor)/ Singh, Sunpreet (Editor)/ Davim, J. Paulo (Editor)
Lingua: Inglese
Editore: CRC Pr I Llc, 2024
- Brossura
Da: Revaluation Books, Exeter, Regno UnitoRevaluation Books
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Nuovo
EUR 133,04
EUR 11,61 spedizioneSpedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Paperback. Condizione: Brand New. 204 pages. 9.18x6.12x9.21 inches. In Stock.

Lingua: Inglese
Editore: Taylor and Francis Ltd, GB, 2024
- Brossura
Da: Rarewaves.com UK, London, Regno UnitoRarewaves.com UK
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Nuovo
EUR 126,31
EUR 75,49 spedizioneSpedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Paperback. Condizione: New. This book presents the broad aspects of measurement, performanceanalysis, and characterization for materials and devices through advanced manufacturing processes. The field of measurement and metrology as a precondition for maintaining high-quality products, devices, and systems in materials and advanced manufacturing process applications has grown substantially in recent years.The focus of this book is to present smart materials in numerous technological sectors such as automotive, bio-manufacturing, chemical, electronics, energy, and construction. Advanced materials have novel properties and therefore must be fully characterized and studied in-depth so they can be incorporated into products that will outperform existing products and resolve current problems.The book captures the emerging areas of materials science and advanced manufacturing engineering and presents recent trends in research for researchers, field engineers, and academic professionals.…

Lingua: Inglese
Editore: Taylor & Francis Ltd, 2024
- Brossura
- Print on Demand
Da: THE SAINT BOOKSTORE, Southport, Regno UnitoTHE SAINT BOOKSTORE
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Nuovo
EUR 100,10
EUR 18,59 spedizioneSpedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Paperback / softback. Condizione: New. This item is printed on demand. New copy - Usually dispatched within 5-9 working days 526.

Lingua: Inglese
Editore: CRC Press, 2024
- Brossura
- Print on Demand
Da: moluna, Greven, Germaniamoluna
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Nuovo
EUR 74,28
EUR 48,99 spedizioneSpedito da Germania a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Kartoniert / Broschiert. Condizione: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Chander Prakash, Sunpreet Singh, J. Paulo DavimThis book presents the broad aspects of measurement, performanceanalysis, and characterization for materials and devices through advanced manufacturing processes. The field of measurement and metrology a.…