Isbn: 9780387945415 - quantitative x-ray diffractometry (2 risultati)

Lingua: Inglese
Editore: Springer Verlag, 1995
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Da: Librairie Parrêsia, Figeac, FranciaLibrairie Parrêsia
Contatta il venditoreVenditore con 4 stelleCondizione: Usato - Buono
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Dec 06, 1995. Condizione: Used: Good. Quantitative X-Ray Diffractometry | Zevin - Kimmel | Springer Verlag New-York Berlin, 1995, in-8° cartonnage éditeur de 372 pages. Couverture propre. Dos solide. Intérieur frais sans soulignage ou annotation. Exemplaire de bibliothèque : petit code barre en pied de 1re de couv., cotation au dos, rares et discrets petits tampons à l'intérieur de l'ouvrage. Très bon état général pour cet ouvrage. [T12].…

Lingua: Inglese
Editore: New York, Springer, 1995
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Da: Antiquariat Bookfarm, Löbnitz, GermaniaAntiquariat Bookfarm
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Hardcover. Condizione: Gut. XVII, 372 S. Ehem. Bibliotheksexemplar mit Signatur und Stempel. GUTER Zustand, ein paar Gebrauchsspuren. Ex-library in GOOD condition with library-signature and stamp(s). Some traces of use. R-16139 9780387945415 Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 550.