9780412137709 - defect analysis in electron microscopy di loretto, michael; smallman, r. e. (1 risultati)

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  • Lingua: Inglese

    Editore: Wiley : distributed by Halstead Press 1975

    0412137704 / 9780412137709

    • Brossura

    Da: ThriftBooks-Dallas, Dallas, TX, U.S.A.ThriftBooks-Dallas

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