9780471248927 - runs and scans with applications: 415 di balakrishnan, n.; koutras, markos v. (17 risultati)
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Condizione: New. Expert practical and theoretical coverage of runs and scans This volume presents both theoretical and applied aspects of runs and scans, and illustrates their important role in reliability analysis through various applications from science and engineering. Series: Wiley Series in Probability and Statistics. Num…Pages: 488 pages, Ill. BIC Classification: PBT; TGPR. Category: (P) Professional & Vocational; (UP) Postgraduate, Research & Scholarly; (UU) Undergraduate. Dimension: 243 x 167 x 32. Weight in Grams: 840. . 2001. 1st Edition. Hardcover. . . . .
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Gebunden. Condizione: New. .many excellent features. (Statistical Methods in Medical Research, No.13, 2004) .provides excellent coverage of the topic of scans, and runs, including a nice historical account and guide to the literature. (Technometrics, Vol. 44, No. 4, Novemb.
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Hardcover. Condizione: new. Hardcover. Expert practical and theoretical coverage of runs and scans This volume presents both theoretical and applied aspects of runs and scans, and illustrates their important role in reliability analysis through various applications from science and engineering. Runs and Scans with Applications p…resents new and exciting content in a systematic and cohesive way in a single comprehensive volume, complete with relevant approximations and explanations of some limit theorems. The authors provide detailed discussions of both classical and current problems, such as: * Sooner and later waiting time * Consecutive systems * Start-up demonstration testing in life-testing experiments * Learning and memory models * "Match" in genetic codes Runs and Scans with Applications offers broad coverage of the subject in the context of reliability and life-testing settings and serves as an authoritative reference for students and professionals alike. Expert practical and theoretical coverage of runs and scans This volume presents both theoretical and applied aspects of runs and scans, and illustrates their important role in reliability analysis through various applications from science and engineering. This item is printed on demand. Shipping may be from our UK warehouse or from our Australian or US warehouses, depending on stock availability.
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