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9780792391159 - Models for Large Integrated Circuits: 103 di Dewilde, Patrick; Ning, Zhen-Qiu (17 risultati)
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Lingua (1)
Spedizione gratuita
Paese del venditore
Valutazione venditore
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Models for Large Integrated Circuits
Lingua: Inglese
Editore: Kluwer Academic Publishers, USA, 1990
ISBN 10: 0792391152 ISBN 13: 9780792391159
Da: PsychoBabel & Skoob Books, Didcot, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Prima edizione
EUR 11,30
Spedizione EUR 14,33
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: Very Good. Condizione sovraccoperta: No Dust Jacket. First Edition. Pages are clean and bright throughout. Library plate on front inside cover. Library stamps on title and contents pages, back inside cover and page block. Ex Library - Minimal Stamping.
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Models for Large Integrated Circuits
Lingua: Inglese
Editore: Kluwer Academic Publishers, 1990
ISBN 10: 0792391152 ISBN 13: 9780792391159
Da: BookDepart, Shepherdstown, WV, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Hardcover. Condizione: Very Good. Hardcover; light fading, light shelf wear to exterior; former owner's stamping on inside front board, copyright page; otherwise contents in very good condition with clean text, firm binding.
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Hardcover. Condizione: New. US SELLER SHIPS FAST FROM USA.
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Models for Large Integrated Circuits
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: New.
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Models for Large Integrated Circuits (The Springer International Series in Engineering and Computer Science, 103)
Da: Lucky's Textbooks, Dallas, TX, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 100,88
Spedizione EUR 3,36
Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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Models for Large Integrated Circuits (The Springer International Series in Engineering and Computer Science, 103)
Da: California Books, Miami, FL, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 114,37
Spedizione gratuita
Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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Models for Large Integrated Circuits
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: As New. Unread book in perfect condition.
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Models for Large Integrated Circuits (The Springer International Series in Engineering and Computer Science, 103)
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 111,39
Spedizione EUR 13,74
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. In.
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Models for Large Integrated Circuits
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 112,54
Spedizione EUR 17,20
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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Models for Large Integrated Circuits
Da: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
Condizione: New. pp. 236.
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Models for Large Integrated Circuits
Da: Majestic Books, Hounslow, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 136,04
Spedizione EUR 7,45
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. pp. 236 52:B&W 6.14 x 9.21in or 234 x 156mm (Royal 8vo) Case Laminate on White w/Gloss Lam.
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Models for Large Integrated Circuits
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 125,71
Spedizione EUR 17,20
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: As New. Unread book in perfect condition.
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Models for Large Integrated Circuits
Lingua: Inglese
Editore: Kluwer Academic Publishers, 1990
ISBN 10: 0792391152 ISBN 13: 9780792391159
Da: Kennys Bookshop and Art Galleries Ltd., Galway, GY, Irlanda
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 134,26
Spedizione EUR 10,50
Spedito da Irlanda a U.S.A.Quantità: 15 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. Series: The Springer International Series in Engineering and Computer Science. Num Pages: 220 pages, biography. BIC Classification: TJF. Category: (P) Professional & Vocational; (UP) Postgraduate, Research & Scholarly. Dimension: 234 x 156 x 14. Weight in Grams: 1120. . 1990. Hardback. . . . .
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Models for Large Integrated Circuits
Da: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Germania
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 143,26
Spedizione EUR 9,95
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. pp. 236.
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Models for Large Integrated Circuits
Lingua: Inglese
Editore: Kluwer Academic Publishers, 1990
ISBN 10: 0792391152 ISBN 13: 9780792391159
Da: Kennys Bookstore, Olney, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
Condizione: New. Series: The Springer International Series in Engineering and Computer Science. Num Pages: 220 pages, biography. BIC Classification: TJF. Category: (P) Professional & Vocational; (UP) Postgraduate, Research & Scholarly. Dimension: 234 x 156 x 14. Weight in Grams: 1120. . 1990. Hardback. . . . . Books ship from the US and Ireland.
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EUR 124,02
Spedizione EUR 48,99
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloGebunden. Condizione: New. A modern microelectronic circuit can be compared to a large construction, a large city, on a very small area. A memory chip, a DRAM, may have up to 64 million bit locations on a surface of a few square centimeters. Each new generation of integrated circuit-.
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EUR 153,14
Spedizione EUR 62,54
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloBuch. Condizione: Neu. Neuware - A modern microelectronic circuit can be compared to a large construction, a large city, on a very small area. A memory chip, a DRAM, may have up to 64 million bit locations on a surface of a few square centimeters. Each new generation of integrated circuit- generations are measured by factors of four in overall complexity -requires a substantial increase in density from the current technology, added precision, a decrease of the size of geometric features, and an increase in the total usable surface. The microelectronic industry has set the trend. Ultra large funds have been invested in the construction of new plants to produce the ultra large-scale circuits with utmost precision under the most severe conditions. The decrease in feature size to submicrons -0.7 micron is quickly becoming availabl- does not only bring technological problems. New design problems arise as well. The elements from which microelectronic circuits are build, transistors and interconnects, have different shape and behave differently than before. Phenomena that could be neglected in a four micron technology, such as the non-uniformity of the doping profile in a transistor, or the mutual capacitance between two wires, now play an important role in circuit design. This situation does not make the life of the electronic designer easier: he has to take many more parasitic effects into account, up to the point that his ideal design will not function as originally planned.
