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9780792391654 - Neural Models and Algorithms for Digital Testing: 140 di Chakradhar, Srimat T.; Agrawal, Vishwani D.; Bushnell, Michael L. (15 risultati)
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Neural Models and Algorithms for Digital Testing
Da: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Germania
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 90,84
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Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
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Neural Models and Algorithms for Digital Testing
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: New.
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Neural Models and Algorithms for Digital Testing (The Springer International Series in Engineering and Computer Science, 140)
Da: California Books, Miami, FL, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 117,49
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Neural Models and Algorithms for Digital Testing (The Springer International Series in Engineering and Computer Science, 140)
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 115,62
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Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
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Neural Models and Algorithms for Digital Testing
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 115,61
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Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
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Neural Models and Algorithms for Digital Testing
Lingua: Inglese
Editore: Kluwer Academic Publishers, 1991
ISBN 10: 0792391659 ISBN 13: 9780792391654
Da: Kennys Bookshop and Art Galleries Ltd., Galway, GY, Irlanda
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
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Spedito da Irlanda a U.S.A.Quantità: 15 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. Series: The Springer International Series in Engineering and Computer Science. Num Pages: 197 pages, biography. BIC Classification: T; UY. Category: (P) Professional & Vocational; (UP) Postgraduate, Research & Scholarly. Dimension: 234 x 156 x 12. Weight in Grams: 1030. . 1991. Hardback. . . . .
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Neural Models and Algorithms for Digital Testing
Da: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
Condizione: New. pp. 204.
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Neural Models and Algorithms for Digital Testing
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 140,81
Spedizione EUR 17,38
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
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Neural Models and Algorithms for Digital Testing (The Springer International Series in Engineering and Computer Science)
Da: Mispah books, Redhill, SURRE, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 131,27
Spedizione EUR 28,97
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: Like New. LIKE NEW. SHIPS FROM MULTIPLE LOCATIONS. book.
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Neural Models and Algorithms for Digital Testing
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: As New. Unread book in perfect condition.
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Neural Models and Algorithms for Digital Testing
Lingua: Inglese
Editore: Kluwer Academic Publishers, 1991
ISBN 10: 0792391659 ISBN 13: 9780792391654
Da: Kennys Bookstore, Olney, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: New. Series: The Springer International Series in Engineering and Computer Science. Num Pages: 197 pages, biography. BIC Classification: T; UY. Category: (P) Professional & Vocational; (UP) Postgraduate, Research & Scholarly. Dimension: 234 x 156 x 12. Weight in Grams: 1030. . 1991. Hardback. . . . . Books ship from the US and Ireland.
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EUR 127,84
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Aggiungi al carrelloGebunden. Condizione: New. References . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 82 9 QUADRATIC 0-1 PROGRAMMING 8S 9. 1 Energy Minimization 86 9. 2 Notation and Tenninology . . . . . . . . . . . . . . . . . 87 9. 3 Minimization Technique . . . . . . . . . . . . . . . . .
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EUR 157,86
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Aggiungi al carrelloBuch. Condizione: Neu. Neuware - References . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 82 9 QUADRATIC 0-1 PROGRAMMING 8S 9. 1 Energy Minimization 86 9. 2 Notation and Tenninology . . . . . . . . . . . . . . . . . 87 9. 3 Minimization Technique . . . . . . . . . . . . . . . . . . 88 9. 4 An Example . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 92 9. 5 Accelerated Energy Minimization. . . . . . . . . . . . . 94 9. 5. 1 Transitive Oosure . . . . . . . . . . . . . . . . . 94 9. 5. 2 Additional Pairwise Relationships 96 9. 5. 3 Path Sensitization . . . . . . . . . . . . . . . . . 97 9. 6 Experimental Results 98 9. 7 Summary. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 100 References . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 100 10 TRANSITIVE CLOSURE AND TESTING 103 10. 1 Background . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 104 10. 2 Transitive Oosure Definition 105 10. 3 Implication Graphs 106 10. 4 A Test Generation Algorithm 107 10. 5 Identifying Necessary Assignments 112 10. 5. 1 Implicit Implication and Justification 113 10. 5. 2 Transitive Oosure Does More Than Implication and Justification 115 10. 5. 3 Implicit Sensitization of Dominators 116 10. 5. 4 Redundancy Identification 117 10. 6 Summary 119 References . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 119 11 POLYNOMIAL-TIME TESTABILITY 123 11. 1 Background 124 11. 1. 1 Fujiwara's Result 125 11. 1. 2 Contribution of the Present Work . . . . . . . . . 126 11. 2 Notation and Tenninology 127 11. 3 A Polynomial TlDle Algorithm 128 11. 3. 1 Primary Output Fault 129 11. 3. 2 Arbitrary Single Fault 135 11. 3. 3 Multiple Faults. . . . . . . . . . . . . . . . . . . 137 11. 4 Summary. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 139 References . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 139 ix 12 SPECIAL CASES OF HARD PROBLEMS 141 12. 1 Problem Statement 142 12. 2 Logic Simulation 143 12. 3 Logic Circuit Modeling . 146 12. 3. 1 Modelfor a Boolean Gate . . . . . . . . . . . . . 147 12. 3. 2 Circuit Modeling 148 12.
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Neural Models and Algorithms for Digital Testing
Da: Majestic Books, Hounslow, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
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