9780824792831 - integrated circuit quality and reliability di hnatek, eugene r. (11 risultati)
Lingua: Inglese
Editore: CRC Press, 1994
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Da: HPB-Red, Dallas, TX, U.S.A.HPB-Red
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Lingua: Inglese
Editore: Taylor & Francis Inc, 1994
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Da: Buchpark, Trebbin, GermaniaBuchpark
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Condizione: Gut. Zustand: Gut | Seiten: 808 | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | Keine Beschreibung verfügbar.
Lingua: Inglese
Editore: CRC Press, 1994
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Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.GreatBookPrices
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Lingua: Inglese
Editore: CRC Press, 1994
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Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.GreatBookPrices
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Condizione: New.
Lingua: Inglese
Editore: CRC Press, 1994
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Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno UnitoGreatBookPricesUK
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EUR 257,91
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Condizione: As New. Unread book in perfect condition.
Lingua: Inglese
Editore: Taylor & Francis Group, 1994
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Da: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.Books Puddle
Contatta il venditoreVenditore con 4 stelleCondizione: Nuovo
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Condizione: New. pp. 808 2nd Edition.
Lingua: Inglese
Editore: CRC Press, 1994
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Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno UnitoGreatBookPricesUK
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Nuovo
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Condizione: New.
Lingua: Inglese
Editore: CRC Press, 1994
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Da: moluna, Greven, Germaniamoluna
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Condizione: New. Hnatek, Eugene R.Examines all important aspects of integrated circuit design, fabrication, assembly and test processes as they relate to quality and reliability. This second edition discusses in detail: the latest circuit design technology trends the s.
Lingua: Inglese
Editore: Taylor & Francis Group, 1994
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Da: Biblios, frankfurt am main, HESSE, GermaniaBiblios
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Condizione: New. pp. 808.
Lingua: Inglese
Editore: Taylor & Francis Inc Dez 1994, 1994
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Da: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, GermaniaAHA-BUCH GmbH
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Buch. Condizione: Neu. Neuware - Examines various aspects of integrated circuit design, fabrication, assembly and test processes as they relate to quality and reliability. This work discusses: circuit design technology trends; sources of error in wafer fabrication and assembly; avenues of contamination; IC packaging methods; and…, in-line process monitors and test structures.
Lingua: Inglese
Editore: Taylor & Francis Group, 1994
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Da: Majestic Books, Hounslow, Regno UnitoMajestic Books
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Condizione: New. pp. 808 This item is printed on demand.
