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Da: BennettBooksLtd, Los Angeles, CA, U.S.A.
Hardcover. Condizione: New. In shrink wrap. Looks like an interesting title!
Da: California Books, Miami, FL, U.S.A.
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Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
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Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
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Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
EUR 99,02
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Lingua: Inglese
Editore: Artech House Publishers, US, 1992
ISBN 10: 0890064504 ISBN 13: 9780890064504
Da: Rarewaves.com USA, London, LONDO, Regno Unito
EUR 117,27
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Aggiungi al carrelloGebunden. Condizione: New. InhaltsverzeichnisYield. Fault Probability. Effect of Defect Sizes on the Fault Probability. Counting Techniques. Yield Equations. Defect Density and Scaling Rules. Yield Prediction. Yield With Redundancy. A Yield Comparison. Productivit.
EUR 73,25
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Aggiungi al carrelloCondizione: Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | Keine Beschreibung verfügbar.
Lingua: Inglese
Editore: Artech House Publishers, US, 1992
ISBN 10: 0890064504 ISBN 13: 9780890064504
Da: Rarewaves.com UK, London, Regno Unito
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Lingua: Inglese
Editore: Artech House Publishers Jul 1992, 1992
ISBN 10: 0890064504 ISBN 13: 9780890064504
Da: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Germania
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Aggiungi al carrelloBuch. Condizione: Neu. Neuware - Introduction to Semiconductor Device Yield Modeling addresses the economic need for accurate yield prediction and clarifies the important role it plays in the semiconductor industry. Supported by over 225 equations, 18 figures, and 64 references.
Da: PBShop.store US, Wood Dale, IL, U.S.A.
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