Isbn: 9780890065273 - yield and reliability in microwave circuit and system design (13 risultati)
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Condizione: Good. This is an ex-library book and may have the usual library/used-book markings inside.This book has hardback covers. In good all round condition. Please note the Image in this listing is a stock photo and may not match the covers of the actual item,650grams, ISBN:0890065276.
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Gebunden. Condizione: New. InhaltsverzeichnisYield calculating yield statistical sensitivity yield optimization statistical modeling case studies and examples.KlappentextA reference for anyone involved with microwave design. It tac.
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Buch. Condizione: Neu. Neuware - This reference is for anyone involved with microwave design. It tackles the practical aspects of microwave statistical design and introduces statistical design techniques that encompass many different applications. This presentation focuses on two main example areas - microwave circuits and systems - but any application with a complex relation between design variables and performance and design variable uncertainty can benefit from statistical design.…
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Da: BUCHSERVICE / ANTIQUARIAT Lars Lutzer, Wahlstedt, GermaniaBUCHSERVICE / ANTIQUARIAT Lars Lutzer
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Hardcover. Condizione: gut. Yield and Reliability in Microwave Circuit and System Design (Artech House Microwave Library (Hardcover)) In englischer Sprache. pages.
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