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9780890065808 - Digital Hardware Testing: Transistor-Level Fault Modeling and Testing di Rajsuman, Rochit (9 risultati)
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hardcover. Condizione: Good. Connecting readers with great books since 1972! Used textbooks may not include companion materials such as access codes, etc. May have some wear or writing/highlighting. We ship orders daily and Customer Service is our top priority!
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Digital Hardware Testing : Transistor-Level Fault Modeling and Testing
Da: Better World Books: West, Reno, NV, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: Very Good. Pages intact with possible writing/highlighting. Binding strong with minor wear. Dust jackets/supplements may not be included. Stock photo provided. Product includes identifying sticker. Better World Books: Buy Books. Do Good.
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Digital Hardware Testing: Transistor-Level Fault Modeling and Testing (Artech House Telecommunications Library)
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 139,37
Spedizione EUR 13,70
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. In.
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EUR 154,59
Spedizione EUR 48,99
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. InhaltsverzeichnisIntroduction to digital IC testing faults in digital circuits bridging faults in random logic open faults in random logic text generation and fault simulation problems testing of structured designs (programmable l.
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EUR 131,12
Spedizione EUR 105,00
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Seiten: 340 | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | Digital Hardware Testing presents realistic transistor-level fault models and testing methods for all types of circuits. The discussion details design-for-testability and built-in self-test methods, with coverage of boundary scan and emerging technologies such as partial scan, cross check, and circular self-test-path.
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Digital Hardware Testing: Transistor-Level Fault Modeling and Testing
Lingua: Inglese
Editore: Artech House Publishers Dez 1992, 1992
ISBN 10: 0890065802 ISBN 13: 9780890065808
EUR 190,81
Spedizione EUR 63,18
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloBuch. Condizione: Neu. Neuware - Digital Hardware Testing presents realistic transistor-level fault models and testing methods for all types of circuits. The discussion details design-for-testability and built-in self-test methods, with coverage of boundary scan and emerging technologies such as partial scan, cross check, and circular self-test-path.
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Digital Hardware Testing TransistorLevel Fault Modeling and Testing Materials Library S
Da: PBShop.store UK, Fairford, GLOS, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 144,66
Spedizione EUR 5,74
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloHRD. Condizione: New. New Book. Delivered from our UK warehouse in 4 to 14 business days. THIS BOOK IS PRINTED ON DEMAND. Established seller since 2000.
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Digital Hardware Testing TransistorLevel Fault Modeling and Testing Materials Library S
Da: PBShop.store US, Wood Dale, IL, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 152,29
Spedizione gratuita
Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloHRD. Condizione: New. New Book. Shipped from UK. THIS BOOK IS PRINTED ON DEMAND. Established seller since 2000.
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Digital Hardware Testing: Transistor-level Fault Modeling and Testing
Da: THE SAINT BOOKSTORE, Southport, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 169,24
Spedizione EUR 20,29
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloHardback. Condizione: New. This item is printed on demand. New copy - Usually dispatched within 5-9 working days.
