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9780890065808 - Digital Hardware Testing: Transistor-Level Fault Modeling and Testing di Rajsuman, Rochit (12 risultati)
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Digital Hardware Testing : Transistor-Level Fault Modeling and Testing
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 138,98
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-
Digital Hardware Testing: Transistor-Level Fault Modeling and Testing (Artech House Telecommunications Library)
Da: California Books, Miami, FL, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 141,32
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-
Digital Hardware Testing : Transistor-Level Fault Modeling and Testing
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 150,54
Spedizione EUR 2,26
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Digital Hardware Testing: Transistor-Level Fault Modeling and Testing (Artech House Telecommunications Library)
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 144,36
Spedizione EUR 13,82
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
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Digital Hardware Testing : Transistor-Level Fault Modeling and Testing
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 144,35
Spedizione EUR 17,31
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
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-
Digital Hardware Testing : Transistor-Level Fault Modeling and Testing
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 157,48
Spedizione EUR 17,31
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
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EUR 70,76
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Aggiungi al carrelloCondizione: Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Seiten: 340 | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | Digital Hardware Testing presents realistic transistor-level fault models and testing methods for all types of circuits. The discussion details design-for-testability and built-in self-test methods, with coverage of boundary scan and emerging technologies such as partial scan, cross check, and circular self-test-path.
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EUR 140,54
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Aggiungi al carrelloGebunden. Condizione: New. InhaltsverzeichnisIntroduction to digital IC testing faults in digital circuits bridging faults in random logic open faults in random logic text generation and fault simulation problems testing of structured designs (programmable l.
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Digital Hardware Testing: Transistor-Level Fault Modeling and Testing
Lingua: Inglese
Editore: Artech House Publishers Dez 1992, 1992
ISBN 10: 0890065802 ISBN 13: 9780890065808
EUR 194,30
Spedizione EUR 63,18
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloBuch. Condizione: Neu. Neuware - Digital Hardware Testing presents realistic transistor-level fault models and testing methods for all types of circuits. The discussion details design-for-testability and built-in self-test methods, with coverage of boundary scan and emerging technologies such as partial scan, cross check, and circular self-test-path.
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Digital Hardware Testing: Transistor-Level Fault Modeling and Testing
Da: PBShop.store US, Wood Dale, IL, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
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Digital Hardware Testing: Transistor-Level Fault Modeling and Testing
Da: PBShop.store UK, Fairford, GLOS, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 146,78
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Digital Hardware Testing: Transistor-level Fault Modeling and Testing
Da: THE SAINT BOOKSTORE, Southport, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 171,07
Spedizione EUR 20,47
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