ISBN: 9781032106274 - mos interface physics, process and characterization (17 risultati)
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Gebunden. Condizione: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Shengkai Wang is a professor in the Institute of Microelectronics, Chinese Academy of Sciences. He received Ph.D. from the University of Tokyo in 2011 and has been engaged in Ge, III-V, SiC in MOS technology. He has published more than 1.…
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Buch. Condizione: Neu. nach der Bestellung gedruckt Neuware - Printed after ordering - The electronic device based on Metal Oxide Semiconductor (MOS) structure is the most important component of a large-scale integrated circuit and the key to achieving high performance devices. This book contains experimental examples focusing on MOS and will be a reference for academics and postgraduates in the field of microelectronics.…
