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9781138075771 - Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits (14 risultati)
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Testing for Small-delay Defects in Nanoscale Cmos Integrated Circuits
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
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Testing for Small-delay Defects in Nanoscale Cmos Integrated Circuits
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
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Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits (Devices, Circuits, and Systems)
Da: Majestic Books, Hounslow, Regno Unito
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Testing for Small-delay Defects in Nanoscale Cmos Integrated Circuits
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
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Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits (Devices, Circuits, and Systems)
Da: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
Condizione: New. pp. 259.
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Testing for Small-delay Defects in Nanoscale Cmos Integrated Circuits
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
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Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 10 disponibili
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Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits
Da: THE SAINT BOOKSTORE, Southport, Regno Unito
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Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits (Devices, Circuits, and Systems)
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
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Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits (Devices, Circuits, and Systems)
Da: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Germania
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Testing for Small-delay Defects in Nanoscale Cmos Integrated Circuits
Da: Revaluation Books, Exeter, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
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Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits
Da: PBShop.store UK, Fairford, GLOS, Regno Unito
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Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits
Da: PBShop.store US, Wood Dale, IL, U.S.A.
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Aggiungi al carrelloCondizione: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Sandeep Kumar Goel is a Senior Manager (DFT/3D-Test) with Taiwan Semiconductor Manufacturing Company (TSMC), San Jose, CA. He received his Ph.D. degree from the University of Twente, The Netherlands. Prior to TSMC, he was in various rese.
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EUR 158,90
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Aggiungi al carrelloTaschenbuch. Condizione: Neu. nach der Bestellung gedruckt Neuware - Printed after ordering - Advances in design methods and process technologies are leading to a continuous increase in the complexity of integrated circuits (ICs). However, the increased complexity and nanometer-size features of modern ICs make them susceptible to manufacturing defects, as well as performance and quality issues. This book covers common problems in areas such as process variations, power supply noise, crosstalk, resistive opens/bridges, and design-for-manufacturing (DfM)-related rule violations. The book also addresses testing for small-delay defects (SDDs), which can cause timing failures on both critical and non-critical paths in the circuit.
