9781402076527 - verification by error modeling: using testing techniques in hardware verification: 25 di radecka, katarzyna; zilic, zeljko (17 risultati)
Lingua: Inglese
Editore: Springer, 2003
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 4 di 40. Libro 4 di 40 - Frontiers in Electronic Testing
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Da: Peak Pearl LLC, Holly Springs, NC, U.S.A.Peak Pearl LLC
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Editore: Springer, 2003
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 4 di 40. Libro 4 di 40 - Frontiers in Electronic Testing
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Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno UnitoRia Christie Collections
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Editore: Springer, 2003
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 4 di 40. Libro 4 di 40 - Frontiers in Electronic Testing
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Editore: Springer, 2003
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 4 di 40. Libro 4 di 40 - Frontiers in Electronic Testing
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Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno UnitoGreatBookPricesUK
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Editore: Kluwer Academic Publishers, 2003
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 4 di 40. Libro 4 di 40 - Frontiers in Electronic Testing
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Da: Kennys Bookshop and Art Galleries Ltd., Galway, GY, IrlandaKennys Bookshop and Art Galleries Ltd.
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Condizione: New. Presents the basis for reusing the test vector generation and simulation for the purpose of implementation verification, to result in a significant timesaving. This book brings the results in the direction of merging manufacturing test vector generation and verification. Series: Frontiers in Electronic Testing.…Num Pages: 231 pages, biography. BIC Classification: TJFM1. Category: (P) Professional & Vocational. Dimension: 235 x 155 x 14. Weight in Grams: 509. . 2003. Hardback. . . . .
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Editore: Springer, 2003
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 4 di 40. Libro 4 di 40 - Frontiers in Electronic Testing
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Da: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.Books Puddle
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Editore: Kluwer Academic Publishers, 2003
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 4 di 40. Libro 4 di 40 - Frontiers in Electronic Testing
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Da: Kennys Bookstore, Olney, MD, U.S.A.Kennys Bookstore
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Condizione: New. Presents the basis for reusing the test vector generation and simulation for the purpose of implementation verification, to result in a significant timesaving. This book brings the results in the direction of merging manufacturing test vector generation and verification. Series: Frontiers in Electronic Testing.…Num Pages: 231 pages, biography. BIC Classification: TJFM1. Category: (P) Professional & Vocational. Dimension: 235 x 155 x 14. Weight in Grams: 509. . 2003. Hardback. . . . . Books ship from the US and Ireland.
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Editore: Springer US, Springer US, 2003
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 4 di 40. Libro 4 di 40 - Frontiers in Electronic Testing
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Da: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, GermaniaAHA-BUCH GmbH
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Buch. Condizione: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - 1. DESIGN FLOW Integrated circuit (IC) complexity is steadily increasing. ICs incorporating hundreds of millions of transistors, mega-bit memories, complicated pipelined structures, etc., are now in high demand. For example, Intel Itanium II processor co…ntains more than 200 million transistors, including a 3 MB third level cache. A billion transistor IC was said to be 'imminently doable' by Intel fellow J. Crawford at Microprocessor Forum in October 2002 [40]. Obviously, designing such complex circuits poses real challenges to engineers. Certainly, no relief comes from the competitive marketplace, with increasing demands for a very narrow window of time (time-to-market) in engineering a ready product. Therefore, a systematic and well-structured approach to designing ICs is a must. Although there are no widely adhered standards for a design flow, most companies have their own established practices, which they follow closely for in-house design processes. In general, however, a typical product cycle includes few milestones. An idea for a new product starts usually from an - depth market analysis of customer needs. Once a window of opportunity is found, product requirements are carefully specified. Ideally, these parameters would not change during the design process. In practice, initial phases of preparing a design specification are susceptible to potential errors, as it is very difficult to grasp all the details in a complex design.
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Editore: Springer, 2003
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Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno UnitoGreatBookPricesUK
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Editore: Springer, 2003
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 4 di 40. Libro 4 di 40 - Frontiers in Electronic Testing
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Da: Mispah books, Redhill, SURRE, Regno UnitoMispah books
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Editore: Springer, 2003
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 4 di 40. Libro 4 di 40 - Frontiers in Electronic Testing
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Editore: Springer US, 2003
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 4 di 40. Libro 4 di 40 - Frontiers in Electronic Testing
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Da: moluna, Greven, Germaniamoluna
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Gebunden. Condizione: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. aThis book presents the basis for reusing the test vector generation and simulation for the purpose of implementation verification, to result in a significant timesaving. It brings the results in the direct…ion of merging manufacturing test vector gen.
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Editore: Springer, 2003
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Da: Majestic Books, Hounslow, Regno UnitoMajestic Books
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Editore: Springer, 2003
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Da: Biblios, frankfurt am main, HESSE, GermaniaBiblios
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Editore: Springer, 2003
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Buch. Condizione: Neu. Verification by Error Modeling | Using Testing Techniques in Hardware Verification | Katarzyna Radecka (u. a.) | Buch | Frontiers in Electronic Testing | xv | Englisch | 2003 | Springer | EAN 9781402076527 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juerg…en[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu Print on Demand.
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Editore: Springer US, Springer US Nov 2003, 2003
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 4 di 40. Libro 4 di 40 - Frontiers in Electronic Testing
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Da: buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Germaniabuchversandmimpf2000
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Buch. Condizione: Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -1. DESIGN FLOW Integrated circuit (IC) complexity is steadily increasing. ICs incorporating hundreds of millions of transistors, mega-bit memories, complicated pipelined structures, etc., are now in high demand. For example, Intel Itanium II…processor contains more than 200 million transistors, including a 3 MB third level cache. A billion transistor IC was said to be ¿imminently doable¿ by Intel fellow J. Crawford at Microprocessor Forum in October 2002 [40]. Obviously, designing such complex circuits poses real challenges to engineers. Certainly, no relief comes from the competitive marketplace, with increasing demands for a very narrow window of time (time-to-market) in engineering a ready product. Therefore, a systematic and well-structured approach to designing ICs is a must. Although there are no widely adhered standards for a design flow, most companies have their own established practices, which they follow closely for in-house design processes. In general, however, a typical product cycle includes few milestones. An idea for a new product starts usually from an - depth market analysis of customer needs. Once a window of opportunity is found, product requirements are carefully specified. Ideally, these parameters would not change during the design process. In practice, initial phases of preparing a design specification are susceptible to potential errors, as it is very difficult to grasp all the details in a complex design.Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg 236 pp. Englisch.
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Editore: Springer US Nov 2003, 2003
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 4 di 40. Libro 4 di 40 - Frontiers in Electronic Testing
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Da: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, GermaniaBuchWeltWeit Ludwig Meier e.K.
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Buch. Condizione: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -This book presents the basis for reusing the test vector generation and simulation for the purpose of implementation verification, to result in a significant timesaving. It brings the results in the direction of merging manufacturing test… vector generation and verification. 236 pp. Englisch.
