9781441922090 - scanning microscopy for nanotechnology: techniques and applications (7 risultati)

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      Taschenbuch. Condizione: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -This book presents scanning electron microscopy (SEM) fundamentals and applications for nanotechnology. It includes integrated fabrication techniques using the SEM, such as e-beam and FIB, and it covers in-situ nanomanipulation of

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      Taschenbuch. Condizione: Neu. Scanning Microscopy for Nanotechnology | Techniques and Applications | Weilie Zhou (u. a.) | Taschenbuch | xiv | Englisch | 2010 | Springer | EAN 9781441922090 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | A

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      Taschenbuch. Condizione: Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -Fundamentals of Scanning Electron Microscopy (SEM).- Backscattering Detector and EBSD in Nanomaterials Characterization.- X-ray Microanalysis in Nanomaterials.- Low kV Scanning Electron Microscopy.- E-beam Nanolithography Integrated wi