ISBN: 9781441957597 - reliability of microtechnology: interconnects, devices and systems (10 risultati)
Reliability of Microtechnology : Interconnects, Devices and Systems
Liu, Johan; Salmela, Olli; Sarkka, Jussi; Morris, James E.; Tegehall, Per-Erik
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Reliability of Microtechnology : Interconnects, Devices and Systems
Liu, Johan; Salmela, Olli; Sarkka, Jussi; Morris, James E.; Tegehall, Per-Erik
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Reliability of Microtechnology: Interconnects, Devices and Systems
Liu, Johan; Salmela, Olli; Sarkka, Jussi; Morris, James E.; Tegehall, Per-Erik; Andersson, Cristina
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Buch. Condizione: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Reliability of Microtechnology discusses the reliability of microtechnology products from the bottom up, beginning with devices and extending to systems. The book's focus includes but is not limited to reliability issues of interconnects, the methodology of reliability concepts and general failure mechanisms. Specific failure modes in solder and conductive adhesives are discussed at great length. Coverage of accelerated testing, component and system level reliability, and reliability design for manufacturability are also described in detail.The book also includes exercises and detailed solutions at the end of each chapter.…
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Buch. Condizione: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Reliability of Microtechnology discusses the reliability of microtechnology products from the bottom up, beginning with devices and extending to systems. The book's focus includes but is not limited to reliability issues of interconnects, the methodology of reliability concepts and general failure mechanisms. Specific failure modes in solder and conductive adhesives are discussed at great length. Coverage of accelerated testing, component and system level reliability, and reliability design for manufacturability are also described in detail.The book also includes exercises and detailed solutions at the end of each chapter. 204 pp. Englisch.…
Reliability of Microtechnology
Johan Liu|Olli Salmela|Jussi Sarkka|James E. Morris|Per-Erik Tegehall|Cristina Andersson
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Gebunden. Condizione: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Discusses the general failure mechanisms of microsystems on a component levelComprehensive coverage of solder joint reliability at the microsystems levelIncludes accelerated testing of solder joints at the microsystems levelDiscusses.…
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