Isbn: 9781441979575 - nanoscale memory repair (6 risultati)
Lingua: Inglese
Editore: Springer, 2011
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Lingua: Inglese
Editore: Springer, 2011
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Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno UnitoRia Christie Collections
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Lingua: Inglese
Editore: Springer New York, 2011
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Buch. Condizione: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Yield and reliability of memories have degraded with device and voltage scaling in the nano-scale era, due to ever-increasing hard/soft errors and device parameter variations. This book systematically describes these yield and reliability issues in terms of mathematics and engineering, as well as an array of repair techniques, based on the authors' long careers in developing memories and low-voltage CMOS circuits. Nanoscale Memory Repair gives a detailed explanation of the various yield models and calculations, as well as various, practical logic and circuits that are critical for higher yield and reliability.…
Lingua: Inglese
Editore: McGraw-Hill Professional, 2011
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Lingua: Inglese
Editore: SPRINGER NATURE Jan 2011, 2011
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Da: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, GermaniaBuchWeltWeit Ludwig Meier e.K.
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Buch. Condizione: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Yield and reliability of memories have degraded with device and voltage scaling in the nano-scale era, due to ever-increasing hard/soft errors and device parameter variations. This book systematically describes these yield and reliability issues in terms of mathematics and engineering, as well as an array of repair techniques, based on the authors' long careers in developing memories and low-voltage CMOS circuits. Nanoscale Memory Repair gives a detailed explanation of the various yield models and calculations, as well as various, practical logic and circuits that are critical for higher yield and reliability. 218 pp. Englisch.…
Lingua: Inglese
Editore: Springer New York, 2011
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Da: moluna, Greven, Germaniamoluna
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Gebunden. Condizione: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Presents the first comprehensive reference to reliability and repair techniques for nano-scale memoriesCovers both the mathematical foundations and engineering applications of yield and reliability in nano-scale memoriesIncludes a variety o.…
