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9781441982964 - Test and Diagnosis for Small-Delay Defects di Tehranipoor, Mohammad; Peng, Ke; Chakrabarty, Krishnendu (12 risultati)
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Paese del venditore
Valutazione venditore
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Test and Diagnosis for Small-Delay Defects
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 122,04
Spedizione EUR 2,27
Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
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Test and Diagnosis for Small-Delay Defects
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 135,00
Spedizione EUR 2,27
Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
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Test and Diagnosis for Small-Delay Defects
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 121,60
Spedizione EUR 17,36
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
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Test and Diagnosis for Small-Delay Defects
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 128,56
Spedizione EUR 17,36
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: As New. Unread book in perfect condition.
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Test and Diagnosis for Small-Delay Defects
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 152,14
Spedizione EUR 13,87
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. In.
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Test and Diagnosis for Small-Delay Defects
Da: Revaluation Books, Exeter, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 153,42
Spedizione EUR 14,47
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: Brand New. 212 pages. 9.25x6.25x0.50 inches. In Stock.
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Test and Diagnosis for Small-Delay Defects
Lingua: Inglese
Editore: Springer New York, Springer New York, 2011
ISBN 10: 1441982965 ISBN 13: 9781441982964
EUR 111,53
Spedizione EUR 62,59
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloBuch. Condizione: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book will introduce new techniques for detecting and diagnosing small-delay defects in integrated circuits. Although this sort of timing defect is commonly found in integrated circuits manufactured with nanometer technology, this will be the first book to introduce effective and scalable methodologies for screening and diagnosing small-delay defects, including important parameters such as process variations, crosstalk, and power supply noise.
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Test and Diagnosis for Small-Delay Defects (eng)
Da: Brook Bookstore On Demand, Napoli, NA, Italia
Valutazione del venditore 3 su 5 stelle
EUR 86,24
Spedizione EUR 5,50
Spedito da Italia a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: new. Questo è un articolo print on demand.
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Test and Diagnosis for Small-Delay Defects
Lingua: Inglese
Editore: Springer New York, Springer New York Sep 2011, 2011
ISBN 10: 1441982965 ISBN 13: 9781441982964
Da: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, Germania
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 106,99
Spedizione EUR 23,00
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloBuch. Condizione: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -This book will introduce new techniques for detecting and diagnosing small-delay defects in integrated circuits. Although this sort of timing defect is commonly found in integrated circuits manufactured with nanometer technology, this will be the first book to introduce effective and scalable methodologies for screening and diagnosing small-delay defects, including important parameters such as process variations, crosstalk, and power supply noise. 232 pp. Englisch.
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EUR 89,99
Spedizione EUR 48,99
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloGebunden. Condizione: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Provides an introduction to VLSI testing and diagnosis, with a focus on delay testing and small-delay defects Presents the most effective techniques for screening small-delay defects, such as long path-based, slack-based, critical fault-based, and.
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EUR 93,35
Spedizione EUR 70,00
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 5 disponibili
Aggiungi al carrelloBuch. Condizione: Neu. Test and Diagnosis for Small-Delay Defects | Mohammad Tehranipoor (u. a.) | Buch | xviii | Englisch | 2011 | Springer | EAN 9781441982964 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu Print on Demand.
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Test and Diagnosis for Small-Delay Defects
Lingua: Inglese
Editore: Springer, Springer Sep 2011, 2011
ISBN 10: 1441982965 ISBN 13: 9781441982964
Da: buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Germania
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 106,99
Spedizione EUR 60,00
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloBuch. Condizione: Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -This book will introduce new techniques for detecting and diagnosing small-delay defects in integrated circuits. Although this sort of timing defect is commonly found in integrated circuits manufactured with nanometer technology, this will be the first book to introduce effective and scalable methodologies for screening and diagnosing small-delay defects, including important parameters such as process variations, crosstalk, and power supply noise.Springer-Verlag KG, Sachsenplatz 4-6, 1201 Wien 232 pp. Englisch.
