Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
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Aggiungi al carrelloTaschenbuch. Condizione: Neu. Software Defect and Operational Profile Modeling | Kai-Yuan Cai | Taschenbuch | Einband - flex.(Paperback) | Englisch | 2012 | Springer Us | EAN 9781461375593 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Heidelberg, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, buchhandel-buch[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
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Aggiungi al carrelloTaschenbuch. Condizione: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - also in: THE KLUWER INTERNATIONAL SERIES ON ASIAN STUDIES IN COMPUTER AND INFORMATION SCIENCE, Volume 1.
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Aggiungi al carrelloCondizione: New. also in: THE KLUWER INTERNATIONAL SERIES ON ASIAN STUDIES IN COMPUTER AND INFORMATION SCIENCE, Volume 1 Preface. 1. Introduction. 2. Empirical Regression Methods. 3. Dynamic Methods. 4. Capture-Recapture Methods. 5. Decomposition Me.
Da: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, Germania
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Aggiungi al carrelloTaschenbuch. Condizione: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -also in: THE KLUWER INTERNATIONAL SERIES ON ASIAN STUDIES IN COMPUTER AND INFORMATION SCIENCE, Volume 1 292 pp. Englisch.
Da: Majestic Books, Hounslow, Regno Unito
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Da: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Germania
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