9781475784749 - high performance memory testing: design principles, fault modeling and self-test: 22a di adams, r. dean dean (11 risultati)

Perfeziona la tua ricerca

  • Libri (11)

a

Fascia di prezzo personalizzata (EUR)

a

    • Lingua: Inglese

      Editore: Springer 2013

      1475784740 / 9781475784749

      Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 12 di 40. Libro 12 di 40 - Frontiers in Electronic Testing

      • Brossura

      Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno UnitoRia Christie Collections

      Venditore con 5 stelle
      Contatta il venditore

      Condizione: Nuovo

      EUR 164,59

      EUR 13,89 spedizione 
      Spedito da Regno Unito a U.S.A.

      Quantità: Più di 20 disponibili

      Condizione: New. In.

    • Lingua: Inglese

      Editore: Springer 2013

      1475784740 / 9781475784749

      Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 12 di 40. Libro 12 di 40 - Frontiers in Electronic Testing

      • Brossura

      Da: Books Puddle, New York, U.S.A.Books Puddle

      Venditore con 4 stelle
      Contatta il venditore

      Condizione: Nuovo

      EUR 209,46

      EUR 3,46 spedizione 
      Spedito in U.S.A.

      Quantità: 4 disponibili

      Condizione: New. pp. 266.

    • Altre immagini

      Lingua: Inglese

      Editore: Springer 2013

      1475784740 / 9781475784749

      Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 12 di 40. Libro 12 di 40 - Frontiers in Electronic Testing

      • Brossura

      Da: preigu, Osnabrück, Germaniapreigu

      Venditore con 5 stelle
      Contatta il venditore

      Condizione: Nuovo

      EUR 140,00

      EUR 70,00 spedizione 
      Spedito da Germania a U.S.A.

      Quantità: 5 disponibili

      Taschenbuch. Condizione: Neu. High Performance Memory Testing | Design Principles, Fault Modeling and Self-Test | R. Dean Adams | Taschenbuch | xiv | Englisch | 2013 | Springer | EAN 9781475784749 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]

    • Lingua: Inglese

      Editore: Springer US, Springer 2013

      1475784740 / 9781475784749

      Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 12 di 40. Libro 12 di 40 - Frontiers in Electronic Testing

      • Brossura

      Da: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, GermaniaAHA-BUCH GmbH

      Venditore con 5 stelle
      Contatta il venditore

      Condizione: Nuovo

      EUR 167,14

      EUR 62,03 spedizione 
      Spedito da Germania a U.S.A.

      Quantità: 1 disponibili

      Taschenbuch. Condizione: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Are memory applications more critical than they have been in the past Yes, but even more critical is the number of designs and the sheer number of bits on each design. It is assured that catastrophes, which were avoided in the past because memorie

    • Lingua: Inglese

      Editore: Springer 2013

      1475784740 / 9781475784749

      Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 12 di 40. Libro 12 di 40 - Frontiers in Electronic Testing

      • Brossura

      Da: Mispah books, Redhill, Regno UnitoMispah books

      Venditore con 4 stelle
      Contatta il venditore

      Condizione: Usato - Come nuovo

      EUR 260,29

      EUR 28,98 spedizione 
      Spedito da Regno Unito a U.S.A.

      Quantità: 1 disponibili

      Paperback. Condizione: Like New. LIKE NEW. SHIPS FROM MULTIPLE LOCATIONS. book.

    • Lingua: Inglese

      Editore: Springer 2013

      1475784740 / 9781475784749

      Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 12 di 40. Libro 12 di 40 - Frontiers in Electronic Testing

      • Brossura
      • Print on Demand

      Da: Brook Bookstore On Demand, Napoli, ItaliaBrook Bookstore On Demand

      Venditore con 3 stelle
      Contatta il venditore

      Condizione: Nuovo

      EUR 126,26

      EUR 5,50 spedizione 
      Spedito da Italia a U.S.A.

      Quantità: Più di 20 disponibili

      Condizione: new. Questo è un articolo print on demand.

    • Lingua: Inglese

      Editore: Springer US Apr 2013 2013

      1475784740 / 9781475784749

      Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 12 di 40. Libro 12 di 40 - Frontiers in Electronic Testing

      • Brossura
      • Print on Demand

      Da: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, GermaniaBuchWeltWeit Ludwig Meier e.K.

      Venditore con 5 stelle
      Contatta il venditore

      Condizione: Nuovo

      EUR 160,49

      EUR 23,00 spedizione 
      Spedito da Germania a U.S.A.

      Quantità: 2 disponibili

      Taschenbuch. Condizione: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Are memory applications more critical than they have been in the past Yes, but even more critical is the number of designs and the sheer number of bits on each design. It is assured that catastrophes, which were avoided in the past

    • Lingua: Inglese

      Editore: Springer US 2013

      1475784740 / 9781475784749

      Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 12 di 40. Libro 12 di 40 - Frontiers in Electronic Testing

      • Brossura
      • Print on Demand

      Da: moluna, Greven, Germaniamoluna

      Venditore con 5 stelle
      Contatta il venditore

      Condizione: Nuovo

      EUR 136,16

      EUR 48,99 spedizione 
      Spedito da Germania a U.S.A.

      Quantità: Più di 20 disponibili

      Condizione: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Are memory applications more critical than they have been in the past? Yes, but even more critical is the number of designs and the sheer number of bits on each design. It is assured that catastrophes, which were avo

    • Lingua: Inglese

      Editore: Springer 2013

      1475784740 / 9781475784749

      Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 12 di 40. Libro 12 di 40 - Frontiers in Electronic Testing

      • Brossura
      • Print on Demand

      Da: Majestic Books, Hounslow, Regno UnitoMajestic Books

      Venditore con 4 stelle
      Contatta il venditore

      Condizione: Nuovo

      EUR 219,79

      EUR 7,53 spedizione 
      Spedito da Regno Unito a U.S.A.

      Quantità: 4 disponibili

      Condizione: New. Print on Demand pp. 266 49:B&W 6.14 x 9.21 in or 234 x 156 mm (Royal 8vo) Perfect Bound on White w/Gloss Lam.

    • Lingua: Inglese

      Editore: Springer US, Springer Apr 2013 2013

      1475784740 / 9781475784749

      Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 12 di 40. Libro 12 di 40 - Frontiers in Electronic Testing

      • Brossura
      • Print on Demand

      Da: buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, Germaniabuchversandmimpf2000

      Venditore con 5 stelle
      Contatta il venditore

      Condizione: Nuovo

      EUR 160,49

      EUR 60,00 spedizione 
      Spedito da Germania a U.S.A.

      Quantità: 1 disponibili

      Taschenbuch. Condizione: Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -Are memory applications more critical than they have been in the past Yes, but even more critical is the number of designs and the sheer number of bits on each design. It is assured that catastrophes, which were avoided in the past bec

    • Lingua: Inglese

      Editore: Springer 2013

      1475784740 / 9781475784749

      Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 12 di 40. Libro 12 di 40 - Frontiers in Electronic Testing

      • Brossura
      • Print on Demand

      Da: Biblios, frankfurt am main, GermaniaBiblios

      Venditore con 4 stelle
      Contatta il venditore

      Condizione: Nuovo

      EUR 220,25

      EUR 9,95 spedizione 
      Spedito da Germania a U.S.A.

      Quantità: 4 disponibili

      Condizione: New. PRINT ON DEMAND pp. 266.