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9781489986306 - Analog IC Reliability in Nanometer CMOS di Maricau, Elie; Gielen, Georges (15 risultati)
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Analog Ic Reliability in Nanometer Cmos
Libro 57 di 124: Analog Circuits and Signal ProcessingDa: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 114,16
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Analog IC Reliability in Nanometer CMOS (Analog Circuits and Signal Processing)
Libro 57 di 124: Analog Circuits and Signal ProcessingDa: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 115,35
Spedizione EUR 13,85
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Analog Ic Reliability in Nanometer Cmos
Libro 57 di 124: Analog Circuits and Signal ProcessingDa: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 115,33
Spedizione EUR 17,34
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Analog IC Reliability in Nanometer CMOS (Analog Circuits and Signal Processing)
Libro 57 di 124: Analog Circuits and Signal ProcessingDa: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
Condizione: New. pp. 198.
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EUR 95,15
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Aggiungi al carrelloTaschenbuch. Condizione: Neu. Analog IC Reliability in Nanometer CMOS | Elie Maricau (u. a.) | Taschenbuch | xvi | Englisch | 2015 | Springer | EAN 9781489986306 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
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EUR 112,77
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Aggiungi al carrelloTaschenbuch. Condizione: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book focuses on modeling, simulation and analysis of analog circuit aging. First, all important nanometer CMOS physical effects resulting in circuit unreliability are reviewed. Then, transistor aging compact models for circuit simulation are discussed and several methods for efficient circuit reliability simulation are explained and compared. Ultimately, the impact of transistor aging on analog circuits is studied. Aging-resilient and aging-immune circuits are identified and the impact of technology scaling is discussed. The models and simulation techniques described in the book are intended as an aid for device engineers, circuit designers and the EDA community to understand and to mitigate the impact of aging effects on nanometer CMOS ICs.
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Analog Ic Reliability in Nanometer Cmos
Libro 57 di 124: Analog Circuits and Signal ProcessingDa: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 207,15
Spedizione EUR 17,34
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Analog IC Reliability in Nanometer CMOS (Analog Circuits and Signal Processing)
Libro 57 di 124: Analog Circuits and Signal ProcessingDa: Mispah books, Redhill, SURRE, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 197,63
Spedizione EUR 28,90
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
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Analog Ic Reliability in Nanometer Cmos
Libro 57 di 124: Analog Circuits and Signal ProcessingDa: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 231,06
Spedizione EUR 2,27
Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
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Maricau:Analog IC Reliability in Nanome (eng)
Libro 57 di 124: Analog Circuits and Signal ProcessingDa: Brook Bookstore On Demand, Napoli, NA, Italia
Valutazione del venditore 3 su 5 stelle
EUR 86,24
Spedizione EUR 24,20
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Analog IC Reliability in Nanometer CMOS
Libro 57 di 124: Analog Circuits and Signal ProcessingLingua: Inglese
Editore: Springer New York Jun 2015, 2015
ISBN 10: 1489986308 ISBN 13: 9781489986306
Da: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, Germania
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 106,99
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Aggiungi al carrelloTaschenbuch. Condizione: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -This book focuses on modeling, simulation and analysis of analog circuit aging. First, all important nanometer CMOS physical effects resulting in circuit unreliability are reviewed. Then, transistor aging compact models for circuit simulation are discussed and several methods for efficient circuit reliability simulation are explained and compared. Ultimately, the impact of transistor aging on analog circuits is studied. Aging-resilient and aging-immune circuits are identified and the impact of technology scaling is discussed. The models and simulation techniques described in the book are intended as an aid for device engineers, circuit designers and the EDA community to understand and to mitigate the impact of aging effects on nanometer CMOS ICs. 216 pp. Englisch.
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Analog IC Reliability in Nanometer CMOS (Analog Circuits and Signal Processing)
Libro 57 di 124: Analog Circuits and Signal ProcessingDa: Majestic Books, Hounslow, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 135,73
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Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 4 disponibili
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EUR 92,27
Spedizione EUR 48,99
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Aggiungi al carrelloCondizione: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Enables readers to understand long-term reliability of an integrated circuit Reviews CMOS unreliability effects, with focus on those that will emerge in future CMOS nodes Provides overview of models for key aging effects, as well as compact.
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Analog IC Reliability in Nanometer CMOS (Analog Circuits and Signal Processing)
Libro 57 di 124: Analog Circuits and Signal ProcessingDa: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Germania
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 137,75
Spedizione EUR 9,95
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 4 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. PRINT ON DEMAND pp. 198.
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Analog IC Reliability in Nanometer CMOS
Libro 57 di 124: Analog Circuits and Signal ProcessingLingua: Inglese
Editore: Springer, Springer Jun 2015, 2015
ISBN 10: 1489986308 ISBN 13: 9781489986306
Da: buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Germania
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EUR 106,99
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Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloTaschenbuch. Condizione: Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -This book focuses on modeling, simulation and analysis of analog circuit aging. First, all important nanometer CMOS physical effects resulting in circuit unreliability are reviewed. Then, transistor aging compact models for circuit simulation are discussed and several methods for efficient circuit reliability simulation are explained and compared. Ultimately, the impact of transistor aging on analog circuits is studied. Aging-resilient and aging-immune circuits are identified and the impact of technology scaling is discussed.The models and simulation techniques described in the book are intended as an aid for device engineers, circuit designers and the EDA community to understand and to mitigate the impact of aging effects on nanometer CMOS ICs.Springer-Verlag KG, Sachsenplatz 4-6, 1201 Wien 216 pp. Englisch.
