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9781785481499 - Reliability Investigation of Led Devices for Public Light Applications di Baillot, Raphael; Deshayes, Yannick; Ousten, Yves (15 risultati)
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Valutazione venditore
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Reliability Investigation of LED Devices for Public Light Applications
Da: Chiron Media, Wallingford, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 66,64
Spedizione EUR 18,21
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: New.
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Reliability Investigation of LED Devices for Public Light Applications
Da: Majestic Books, Hounslow, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 78,43
Spedizione EUR 7,64
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 3 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. pp. 222.
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Reliability Investigation of Led Devices for Public Light Applications
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 90,31
Spedizione EUR 2,31
Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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Reliability Investigation of LED Devices for Public Light Applications
Da: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
Condizione: New. pp. 222.
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Reliability Investigation of LED Devices for Public Light Applications
Lingua: Inglese
Editore: ISTE Press Ltd - Elsevier Inc, 2017
ISBN 10: 1785481495 ISBN 13: 9781785481499
Da: THE SAINT BOOKSTORE, Southport, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 83,04
Spedizione EUR 18,86
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloHardback. Condizione: New. New copy - Usually dispatched within 4 working days.
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Reliability Investigation of LED Devices for Public Light Applications
Da: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Germania
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 89,81
Spedizione EUR 9,95
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 3 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. pp. 222.
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Reliability Investigation of Led Devices for Public Light Applications
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 102,10
Spedizione EUR 2,31
Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: As New. Unread book in perfect condition.
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Reliability Investigation of LED Devices for Public Light Applications
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 94,96
Spedizione EUR 14,09
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. In.
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Reliability Investigation of Led Devices for Public Light Applications
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 90,70
Spedizione EUR 17,64
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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Reliability Investigation of Led Devices for Public Light Applications
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 106,47
Spedizione EUR 17,64
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: As New. Unread book in perfect condition.
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Reliability Investigation of LED Devices for Public Light Applications
Da: Brook Bookstore On Demand, Napoli, NA, Italia
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 70,21
Spedizione EUR 6,80
Spedito da Italia a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: new. Questo è un articolo print on demand.
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Reliability Investigation of Led Devices for Public Light Applications
Da: Revaluation Books, Exeter, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 75,30
Spedizione EUR 14,70
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: Brand New. 222 pages. 9.00x6.00x0.75 inches. In Stock. This item is printed on demand.
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Reliability Investigation of LED Devices for Public Light Applications
Da: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, Germania
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 74,95
Spedizione EUR 23,00
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloBuch. Condizione: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Reliability Investigation of LED Devices for Public Light Applications focuses on state-of-the-art GaN-based LED technology through the study of typical failure mechanisms in public lighting applications. Across the different chapters, the reader will explore the tools and analyses involved in the study and application of a number of different LED devices. The authors review GaN-based LED technology by focusing on the main failure mechanisms targeting polymer-based packaging, thanks to electrical and spectral models. The proposed technology and methodologies will help those interested in the topic to further their knowledge of failure mechanisms, exploring the physical and chemical analyses involved. 224 pp. Englisch.
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Reliability Investigation of LED Devices for Public Light Applications
Lingua: Inglese
Editore: ISTE Press Ltd - Elsevier Inc, 2017
ISBN 10: 1785481495 ISBN 13: 9781785481499
Da: THE SAINT BOOKSTORE, Southport, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 110,11
Spedizione EUR 18,86
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloHardback. Condizione: New. This item is printed on demand. New copy - Usually dispatched within 5-9 working days.
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EUR 74,95
Spedizione EUR 62,36
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloBuch. Condizione: Neu. nach der Bestellung gedruckt Neuware - Printed after ordering - Reliability Investigation of LED Devices for Public Light Applications focuses on state-of-the-art GaN-based LED technology through the study of typical failure mechanisms in public lighting applications. Across the different chapters, the reader will explore the tools and analyses involved in the study and application of a number of different LED devices. The authors review GaN-based LED technology by focusing on the main failure mechanisms targeting polymer-based packaging, thanks to electrical and spectral models. The proposed technology and methodologies will help those interested in the topic to further their knowledge of failure mechanisms, exploring the physical and chemical analyses involved.
