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9781839682292 - Recent Developments in Atomic Force Microscopy and Raman Spectroscopy for Materials Characterization di Chandra Shakher Pathak (editor) & Samir Kumar (editor) (9 risultati)
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Recent Developments in Atomic Force Microscopy and Raman Spectroscopy for Materials Characterization
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
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Recent Developments in Atomic Force Microscopy and Raman Spectroscopy for Materials Characterization
Da: PBShop.store US, Wood Dale, IL, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
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Aggiungi al carrelloHRD. Condizione: New. New Book. Shipped from UK. THIS BOOK IS PRINTED ON DEMAND. Established seller since 2000.
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Recent Developments in Atomic Force Microscopy and Raman Spectroscopy for Materials Characterization
Da: PBShop.store UK, Fairford, GLOS, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 135,14
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Recent Developments in Atomic Force Microscopy and Raman Spectroscopy for Materials Characterization
Da: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, Germania
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 129,00
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Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloBuch. Condizione: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -This book contains chapters that describe advanced atomic force microscopy (AFM) modes and Raman spectroscopy. It also provides an in-depth understanding of advanced AFM modes and Raman spectroscopy for characterizing various materials. This volume is a useful resource for a wide range of readers, including scientists, engineers, graduate students, postdoctoral fellows, and scientific professionals working in specialized fields such as AFM, photovoltaics, 2D materials, carbon nanotubes, nanomaterials, and Raman spectroscopy. 274 pp. Englisch.
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Recent Developments in Atomic Force Microscopy and Raman Spectroscopy for Materials Characterization
Da: THE SAINT BOOKSTORE, Southport, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 157,64
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Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
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Recent Developments in Atomic Force Microscopy and Raman Spectroscopy for Materials Characterization
EUR 129,00
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Aggiungi al carrelloGebunden. Condizione: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. KlappentextrnrnThis book contains chapters that describe advanced atomic force microscopy (AFM) modes and Raman spectroscopy. It also provides an in-depth understanding of advanced AFM modes and Raman spectroscopy for characterizing various mate.
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Recent Developments in Atomic Force Microscopy and Raman Spectroscopy for Materials Characterization
Da: buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Germania
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 129,00
Spedizione EUR 60,00
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloBuch. Condizione: Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -This book contains chapters that describe advanced atomic force microscopy (AFM) modes and Raman spectroscopy. It also provides an in-depth understanding of advanced AFM modes and Raman spectroscopy for characterizing various materials. This volume is a useful resource for a wide range of readers, including scientists, engineers, graduate students, postdoctoral fellows, and scientific professionals working in specialized fields such as AFM, photovoltaics, 2D materials, carbon nanotubes, nanomaterials, and Raman spectroscopy.Books on Demand GmbH, Überseering 33, 22297 Hamburg 274 pp. Englisch.
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Recent Developments in Atomic Force Microscopy and Raman Spectroscopy for Materials Characterization
EUR 129,00
Spedizione EUR 64,04
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloBuch. Condizione: Neu. nach der Bestellung gedruckt Neuware - Printed after ordering - This book contains chapters that describe advanced atomic force microscopy (AFM) modes and Raman spectroscopy. It also provides an in-depth understanding of advanced AFM modes and Raman spectroscopy for characterizing various materials. This volume is a useful resource for a wide range of readers, including scientists, engineers, graduate students, postdoctoral fellows, and scientific professionals working in specialized fields such as AFM, photovoltaics, 2D materials, carbon nanotubes, nanomaterials, and Raman spectroscopy.
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Recent Developments in Atomic Force Microscopy and Raman Spectroscopy for Materials Characterization
EUR 129,00
Spedizione EUR 70,00
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Aggiungi al carrelloBuch. Condizione: Neu. Recent Developments in Atomic Force Microscopy and Raman Spectroscopy for Materials Characterization | Chandra Shakher Pathak (u. a.) | Buch | Gebunden | Englisch | 2022 | IntechOpen | EAN 9781839682292 | Verantwortliche Person für die EU: preigu GmbH & Co. KG, Lengericher Landstr. 19, 49078 Osnabrück, mail[at]preigu[dot]de | Anbieter: preigu Print on Demand.
