ISBN: 9781848211759 - passive rf integrated circuits: modeling, characterization and measurement (10 risultati)

di Pierre Saguet
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  • Lingua: Inglese

    Editore: John Wiley and Sons, 2009

    1848211759 / 9781848211759

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  • Lingua: Inglese

    Editore: ISTE Ltd and John Wiley & Sons Inc, 2009

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    Condizione: New. This book, written by recognized experts in the field, is intended for designers of RF or microwave passive integrated circuits. Editor(s): Saguet, Pierre. Series: ISTE. Num Pages: 288 pages, Illustrations. BIC Classification: TJFC. Category: (P) Professional & Vocational. Dimension: 242 x 163 x 20. Weight in Grams: 558. . 2009. 1st Edition. Hardcover. . . . . …

  • Lingua: Inglese

    Editore: Wiley-ISTE, 2009

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    Editore: Wiley-ISTE, 2009

    1848211759 / 9781848211759

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    Editore: John Wiley & Sons, 2009

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    Gebunden. Condizione: New. This book, written by recognized experts in the field, is intended for designers of RF or microwave passive integrated circuits. It describes methods used for modeling passive circuits using the most common numerical analysis techniques (the method of momen.

  • Lingua: Inglese

    Editore: ISTE Ltd and John Wiley & Sons Inc, 2009

    1848211759 / 9781848211759

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    Condizione: New. This book, written by recognized experts in the field, is intended for designers of RF or microwave passive integrated circuits. Editor(s): Saguet, Pierre. Series: ISTE. Num Pages: 288 pages, Illustrations. BIC Classification: TJFC. Category: (P) Professional & Vocational. Dimension: 242 x 163 x 20. Weight in Grams: 558. . 2009. 1st Edition. Hardcover. . . . . Books ship from the US and Ireland. …

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    Editore: Wiley Dez 2009, 2009

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    Da: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, GermaniaAHA-BUCH GmbH

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    Buch. Condizione: Neu. Neuware - This book, written by recognized experts in the field, is intended for designers of RF or microwave passive integrated circuits. It describes methods used for modeling passive circuits using the most common numerical analysis techniques (the method of moments, finite element methods, FDTD, TLM), and pays particular attention to propagation phenomena. Interconnections and packaging modeling are included, as well as an original method for multi-scale circuit modeling.Characterization and measurement methods in the time and frequency domains are the subject of two very detailed chapters. Measurement errors using Vector Network Analyzer (VNA ) and appropriate corrections are detailed and the divergences between all the various parameters S, Z, Y, h, T, ABCD are given. Time domain reflectometry and its use are also covered in detail.…