9783211206874 - intrinsic point defects, impurities, and their diffusion in silicon di pichler, p. (7 risultati)

Intrinsic Point Defects, Impurities, and Their Diffusion in Silicon (Computational Microelectronics)
Lingua: Inglese
Editore: Springer, 2004
Serie: Computational Microelectronics, Libro 13 di 17. Libro 13 di 17 - Computational Microelectronics
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Intrinsic Point Defects, Impurities, and Their Diffusion in Silicon (Computational Microelectronics)
Lingua: Inglese
Editore: Springer, 2004
Serie: Computational Microelectronics, Libro 13 di 17. Libro 13 di 17 - Computational Microelectronics
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Intrinsic Point Defects, Impurities, and Their Diffusion in Silicon (Computational Microelectronics)
Lingua: Inglese
Editore: Springer, 2004
Serie: Computational Microelectronics, Libro 13 di 17. Libro 13 di 17 - Computational Microelectronics
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Editore: Springer, 2004
Serie: Computational Microelectronics, Libro 13 di 17. Libro 13 di 17 - Computational Microelectronics
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Editore: Springer Verlag, 2004
Serie: Computational Microelectronics, Libro 13 di 17. Libro 13 di 17 - Computational Microelectronics
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Lingua: Inglese
Editore: Springer, 2004
Serie: Computational Microelectronics, Libro 13 di 17. Libro 13 di 17 - Computational Microelectronics
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Editore: Springer Vienna, 2004
Serie: Computational Microelectronics, Libro 13 di 17. Libro 13 di 17 - Computational Microelectronics
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Condizione: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. First comprehensive review of intrinsic point defects and impurities in siliconCompiles all known information about structures, energetic properties, identified electrical levels and spectroscopic signatures, and the… diffusion behavior of intrinsi.