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9783319951379 - Spectroscopic Ellipsometry for Photovoltaics: Applications and Optical Data of Solar Cell Materials (2) (13 risultati)
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![Immagine dell'editore per Spectroscopic Ellipsometry for Photovoltaics: Volume 2: Applications and Optical Data of Solar Cell Materials (Springer Series in Optical Sciences, 214, Band 2) [Hardcover] Fujiwara, Hiroyuki and Collins, Robert W. venduto da SpringBooks](https://pictures.abebooks.com/isbn/9783319951379-it-300.jpg)
Spectroscopic Ellipsometry for Photovoltaics: Volume 2: Applications and Optical Data of Solar Cell Materials (Springer Series in Optical Sciences, 214, Band 2) [Hardcover] Fujiwara, Hiroyuki and Collins, Robert W.
Libro 211 di 235: Springer Series in Optical SciencesPrima edizione
EUR 93,08
Spedizione EUR 39,90
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: Very Good. 1. Auflage. Unread, some shelfwear. Immediately dispatched from Germany.
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Spectroscopic Ellipsometry for Photovoltaics. Volume 2: Applications and Optical Data of Solar Cell Materials.
Libro 211 di 235: Springer Series in Optical SciencesDa: Antiquariat Bookfarm, Löbnitz, Germania
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 102,00
Spedizione EUR 40,00
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. XXI, 616. 330 illus., 204 illus. in color Ex-library with stamp and library-signature. GOOD condition, some traces of use. C-02007 9783319951379 Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 1150.
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Spectroscopic Ellipsometry for Photovoltaics: Volume 2: Applications and Optical Data of Solar Cell Materials (Springer Series in Optical Sciences, 214)
Libro 211 di 235: Springer Series in Optical SciencesDa: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 225,13
Spedizione EUR 13,85
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
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Spectroscopic Ellipsometry For Photovoltaics: Volume 2: Applications And Optical Data Of Solar Cell Materials
Libro 211 di 235: Springer Series in Optical SciencesDa: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
Condizione: New.
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Spectroscopic Ellipsometry for Photovoltaics : Volume 2: Applications and Optical Data of Solar Cell Materials
Libro 211 di 235: Springer Series in Optical SciencesLingua: Inglese
Editore: Springer International Publishing, 2019
ISBN 10: 3319951378 ISBN 13: 9783319951379
EUR 235,39
Spedizione EUR 65,58
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Aggiungi al carrelloBuch. Condizione: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Spectroscopic ellipsometry has been applied to a wide variety of material and device characterizations in solar cell research fields. In particular, device performance analyses using exact optical constants of component layers and direct analyses of complex solar cell structures are unique features of advanced ellipsometry methods. This second volume of Spectroscopic Ellipsometry for Photovoltaics presents various applications of the ellipsometry technique for device analyses, including optical/recombination loss analyses, real-time control and on-line monitoring of solar cell structures, and large-area structural mapping. Furthermore, this book describes the optical constants of 148 solar cell component layers, covering a broad range of materials from semiconductor light absorbers (inorganic, organic and hybrid perovskite semiconductors) to transparent conductive oxides and metals. The tabulated and completely parameterized optical constants described in this book are the most current resource that is vital for device simulations and solar cell structural analyses.
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Spectroscopic Ellipsometry for Photovoltaics: Volume 2: Applications and Optical Data of Solar Cell Materials (Springer Series in Optical Sciences, 214)
Libro 211 di 235: Springer Series in Optical SciencesDa: Mispah books, Redhill, SURRE, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 316,79
Spedizione EUR 28,91
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
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Spectroscopic Ellipsometry for Photovoltaics: Volume 2: Applications and Optical Data of Solar Cell Materials
Libro 211 di 235: Springer Series in Optical SciencesDa: Revaluation Books, Exeter, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 347,45
Spedizione EUR 17,34
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: Brand New. 640 pages. 9.25x6.10x1.54 inches. In Stock.
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Spectroscopic Ellipsometry for Photovoltaics (eng)
Libro 211 di 235: Springer Series in Optical SciencesDa: Brook Bookstore On Demand, Napoli, NA, Italia
Valutazione del venditore 3 su 5 stelle
EUR 182,29
Spedizione EUR 11,00
Spedito da Italia a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
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Spectroscopic Ellipsometry for Photovoltaics
Libro 211 di 235: Springer Series in Optical SciencesLingua: Inglese
Editore: Springer International Publishing, 2019
ISBN 10: 3319951378 ISBN 13: 9783319951379
EUR 197,62
Spedizione EUR 48,99
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloGebunden. Condizione: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Presents the ellipsometry characterization of solar cell materials/devices Provides easy-to-follow explanations of ellipsometry data analysis Includes optical constants for all solar cell component layers .
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Spectroscopic Ellipsometry for Photovoltaics
Libro 211 di 235: Springer Series in Optical SciencesLingua: Inglese
Editore: Springer International Publishing Jan 2019, 2019
ISBN 10: 3319951378 ISBN 13: 9783319951379
Da: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, Germania
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 235,39
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Aggiungi al carrelloBuch. Condizione: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Spectroscopic ellipsometry has been applied to a wide variety of material and device characterizations in solar cell research fields. In particular, device performance analyses using exact optical constants of component layers and direct analyses of complex solar cell structures are unique features of advanced ellipsometry methods. This second volume of Spectroscopic Ellipsometry for Photovoltaics presents various applications of the ellipsometry technique for device analyses, including optical/recombination loss analyses, real-time control and on-line monitoring of solar cell structures, and large-area structural mapping. Furthermore, this book describes the optical constants of 148 solar cell component layers, covering a broad range of materials from semiconductor light absorbers (inorganic, organic and hybrid perovskite semiconductors) to transparent conductive oxides and metals. The tabulated and completely parameterized optical constants described in this book are the most current resource that is vital for device simulations and solar cell structural analyses. 640 pp. Englisch.
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Spectroscopic Ellipsometry For Photovoltaics: Volume 2: Applications And Optical Data Of Solar Cell Materials
Libro 211 di 235: Springer Series in Optical SciencesDa: Majestic Books, Hounslow, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 295,39
Spedizione EUR 7,52
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 4 disponibili
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Spectroscopic Ellipsometry for Photovoltaics
Libro 211 di 235: Springer Series in Optical SciencesLingua: Inglese
Editore: Springer, Palgrave Macmillan Jan 2019, 2019
ISBN 10: 3319951378 ISBN 13: 9783319951379
Da: buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Germania
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 235,39
Spedizione EUR 60,00
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloBuch. Condizione: Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -Spectroscopic ellipsometry has been applied to a wide variety of material and device characterizations in solar cell research fields. In particular, device performance analyses using exact optical constants of component layers and direct analyses of complex solar cell structures are unique features of advanced ellipsometry methods. This second volume of Spectroscopic Ellipsometry for Photovoltaics presents various applications of the ellipsometry technique for device analyses, including optical/recombination loss analyses, real-time control and on-line monitoring of solar cell structures, and large-area structural mapping. Furthermore, this book describes the optical constants of 148 solar cell component layers, covering a broad range of materials from semiconductor light absorbers (inorganic, organic and hybrid perovskite semiconductors) to transparent conductive oxides and metals. The tabulated and completely parameterized optical constants described in this book are the most current resource that is vital for device simulations and solar cell structural analyses.Springer-Verlag KG, Sachsenplatz 4-6, 1201 Wien 640 pp. Englisch.
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Spectroscopic Ellipsometry For Photovoltaics: Volume 2: Applications And Optical Data Of Solar Cell Materials
Libro 211 di 235: Springer Series in Optical SciencesDa: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Germania
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 299,42
Spedizione EUR 9,95
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 4 disponibili
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