ISBN: 9783540639763 - scanning electron microscopy: physics of image formation and microanalysis: 45 (11 risultati)

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Editore: Springer (edition Second Edition 1998), 1998
Serie: Libro 56 di 235 - Springer Series in Optical Sciences
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Lingua: Inglese
Editore: Berlin ; Heidelberg ; Tokyo ; New York ; Barcelona ; Budapest ; Hong Kong ; London ; Milan ; Paris ; Singapore : Springer, 1998
Serie: Libro 56 di 235 - Springer Series in Optical Sciences
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Condizione: Gut. Zustand: Gut | Seiten: 544 | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | Scanning Electron Microscopy provides a description of the physics of electron-probe formation and of electron-specimen interactions. The different imaging and analytical modes using secondary and backscattered electrons, electron-beam-induced currents, X-ray and Auger electrons, electron channelling effects, and cathodoluminescence are discussed to evaluate specific contrasts and to obtain quantitative information.…

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Buch. Condizione: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Scanning Electron Microscopy provides a description of the physics of electron-probe formation and of electron-specimen interactions. The different imaging and analytical modes using secondary and backscattered electrons, electron-beam-induced currents, X-ray and Auger electrons, electron channelling effects, and cathodoluminescence are discussed to evaluate specific contrasts and to obtain quantitative information. …

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Editore: Springer Berlin Heidelberg, 1998
Serie: Libro 56 di 235 - Springer Series in Optical Sciences
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Editore: Springer Vieweg, Springer Sep 1998, 1998
Serie: Libro 56 di 235 - Springer Series in Optical Sciences
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Buch. Condizione: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Scanning Electron Microscopy provides a description of the physics of electron-probe formation and of electron-specimen interactions. The different imaging and analytical modes using secondary and backscattered electrons, electron-beam-induced currents, X-ray and Auger electrons, electron channelling effects, and cathodoluminescence are discussed to evaluate specific contrasts and to obtain quantitative information. 544 pp. Englisch.…

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Editore: Springer, Springer Sep 1998, 1998
Serie: Libro 56 di 235 - Springer Series in Optical Sciences
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Buch. Condizione: Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -Scanning Electron Microscopy provides a description of the physics of electron-probe formation and of electron-specimen interactions. The different imaging and analytical modes using secondary and backscattered electrons, electron-beam-induced currents, X-ray and Auger electrons, electron channelling effects, and cathodoluminescence are discussed to evaluate specific contrasts and to obtain quantitative information.Springer-Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg 544 pp. Englisch.…