Importo totale (1 articolo articoli):
Destinazione ordine:
9783540639763 - Scanning Electron Microscopy: Physics of Image Formation and Microanalysis: 45 di Reimer, Ludwig (9 risultati)
Vai alla pagina principale dei risultati di ricerca
Filtri di ricerca
Tipo di articolo
- Tutti i tipi di prodotto
- Libri (9)
- Riviste e Giornali (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Fumetti (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Spartiti (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Arte, Stampe e Poster (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Fotografie (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Mappe (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Manoscritti e Collezionismo cartaceo (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
Condizioni Maggiori informazioni
- Nuovo (5)
- Come nuovo, Ottimo o Quasi ottimo (1)
- Molto buono o Buono (2)
- Discreto o Mediocre (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Come descritto (1)
Legatura
- Tutte
- Rilegato (9)
- Brossura (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
Ulteriori caratteristiche
- Prima ed. (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Copia autograf. (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Sovracoperta (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Con foto (5)
- Non Print on Demand (6)
Lingua (1)
Prezzo
- Qualsiasi prezzo
- Inferiore a EUR 20 (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- EUR 20 a EUR 45 (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Superiore a EUR 45
Spedizione gratuita
- Spedizione gratuita in U.S.A. (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
Paese del venditore
Valutazione venditore
-
Scanning Electron Microscopy: Physics of Image Formation and Microanalysis (Springer Series in Optical Sciences, 45)
Libro 56 di 235: Springer Series in Optical SciencesDa: Superbbooks, San Francisco, CA, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Hardcover. Condizione: Fine. 2nd Edition. EXCELLENT Unmarked PAGES And BINDING And COVER. Hardback. No dust Jacket, as issued. From the library of a Lawrence Livermore physicist. Approximately 6 X 9 ½. 527 pages.
-
Scanning Electron Microscopy: Physics of Image Formation and Microanalysis: 45 (Springer Series in Optical Sciences, 45)
Libro 56 di 235: Springer Series in Optical SciencesDa: SN Books Ltd, Thetford, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 160,14
Spedizione EUR 17,31
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrellohardcover. Condizione: Very Good. Orders shipped daily from the UK. Professional seller.
-
Scanning electron microscopy : physics of image formation and microanalysis. Springer series in optical sciences ; Vol. 45
Libro 56 di 235: Springer Series in Optical SciencesLingua: Inglese
Editore: Berlin ; Heidelberg ; Tokyo ; New York ; Barcelona ; Budapest ; Hong Kong ; London ; Milan ; Paris ; Singapore : Springer, 1998
ISBN 10: 3540639764 ISBN 13: 9783540639763
Da: Hübner Einzelunternehmen, Hamburg, HH, Germania
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 150,00
Spedizione EUR 41,00
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloPp. 2., completely rev. and updated ed. XIV, 527 S. : Ill., graph. Darst. ; 24 cm Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 882.
-
Scanning Electron Microscopy: Physics of Image Formation and Microanalysis (Springer Series in Optical Sciences, 45)
Libro 56 di 235: Springer Series in Optical SciencesDa: BennettBooksLtd, Los Angeles, CA, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
hardcover. Condizione: New. In shrink wrap. Looks like an interesting title!
-
Scanning Electron Microscopy : Physics of Image Formation and Microanalysis
Libro 56 di 235: Springer Series in Optical SciencesEUR 181,23
Spedizione EUR 105,00
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: Gut. Zustand: Gut | Seiten: 544 | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | Scanning Electron Microscopy provides a description of the physics of electron-probe formation and of electron-specimen interactions. The different imaging and analytical modes using secondary and backscattered electrons, electron-beam-induced currents, X-ray and Auger electrons, electron channelling effects, and cathodoluminescence are discussed to evaluate specific contrasts and to obtain quantitative information.
-
Scanning Electron Microscopy : Physics of Image Formation and Microanalysis
Libro 56 di 235: Springer Series in Optical SciencesEUR 374,49
Spedizione EUR 64,88
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloBuch. Condizione: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Scanning Electron Microscopy provides a description of the physics of electron-probe formation and of electron-specimen interactions. The different imaging and analytical modes using secondary and backscattered electrons, electron-beam-induced currents, X-ray and Auger electrons, electron channelling effects, and cathodoluminescence are discussed to evaluate specific contrasts and to obtain quantitative information.
-
Scanning Electron Microscopy
Libro 56 di 235: Springer Series in Optical SciencesLingua: Inglese
Editore: Springer Berlin Heidelberg, 1998
ISBN 10: 3540639764 ISBN 13: 9783540639763
EUR 311,76
Spedizione EUR 48,99
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Main benefit is information about the physics of image formation and microanalysis in scanning electron microscopy2nd, completely revised and updated editionMain benefit is information about the physics of image formation and microanalysis in sca.
-
Scanning Electron Microscopy
Libro 56 di 235: Springer Series in Optical SciencesLingua: Inglese
Editore: Springer Vieweg, Springer Sep 1998, 1998
ISBN 10: 3540639764 ISBN 13: 9783540639763
Da: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, Germania
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 374,49
Spedizione EUR 23,00
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloBuch. Condizione: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Scanning Electron Microscopy provides a description of the physics of electron-probe formation and of electron-specimen interactions. The different imaging and analytical modes using secondary and backscattered electrons, electron-beam-induced currents, X-ray and Auger electrons, electron channelling effects, and cathodoluminescence are discussed to evaluate specific contrasts and to obtain quantitative information. 544 pp. Englisch.
-
Scanning Electron Microscopy
Libro 56 di 235: Springer Series in Optical SciencesLingua: Inglese
Editore: Springer, Springer Sep 1998, 1998
ISBN 10: 3540639764 ISBN 13: 9783540639763
Da: buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Germania
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 374,49
Spedizione EUR 60,00
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloBuch. Condizione: Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -Scanning Electron Microscopy provides a description of the physics of electron-probe formation and of electron-specimen interactions. The different imaging and analytical modes using secondary and backscattered electrons, electron-beam-induced currents, X-ray and Auger electrons, electron channelling effects, and cathodoluminescence are discussed to evaluate specific contrasts and to obtain quantitative information.Springer-Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg 544 pp. Englisch.
