9783540639763 - scanning electron microscopy: physics of image formation and microanalysis: 45 di reimer, ludwig (12 risultati)
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Hardcover. Condizione: Fine. 2nd Edition. EXCELLENT Unmarked PAGES And BINDING And COVER. Hardback. No dust Jacket, as issued. From the library of a Lawrence Livermore physicist. Approximately 6 X 9 ½. 527 pages.
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Editore: Berlin ; Heidelberg ; Tokyo ; New York ; Barcelona ; Budapest ; Hong Kong ; London ; Milan ; Paris ; Singapore : Springer, 1998
Serie: Libro 56 di 235 - Springer Series in Optical Sciences
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Pp. 2., completely rev. and updated ed. XIV, 527 S. : Ill., graph. Darst. ; 24 cm Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 882.
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Condizione: Gut. Zustand: Gut | Seiten: 544 | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | Scanning Electron Microscopy provides a description of the physics of electron-probe formation and of electron-specimen interactions. The different imaging and analytical modes using secondary and backscattered electrons, electron-beam-induced… currents, X-ray and Auger electrons, electron channelling effects, and cathodoluminescence are discussed to evaluate specific contrasts and to obtain quantitative information.
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Buch. Condizione: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Scanning Electron Microscopy provides a description of the physics of electron-probe formation and of electron-specimen interactions. The different imaging and analytical modes using secondary and backscattered electrons, electron-beam-induced currents,…X-ray and Auger electrons, electron channelling effects, and cathodoluminescence are discussed to evaluate specific contrasts and to obtain quantitative information.
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Editore: Springer Berlin Heidelberg, 1998
Serie: Libro 56 di 235 - Springer Series in Optical Sciences
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Condizione: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Main benefit is information about the physics of image formation and microanalysis in scanning electron microscopy2nd, completely revised and updated editionMain benefit is information about the physics of image form…ation and microanalysis in sca.
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Editore: Springer Vieweg, Springer Sep 1998, 1998
Serie: Libro 56 di 235 - Springer Series in Optical Sciences
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Buch. Condizione: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Scanning Electron Microscopy provides a description of the physics of electron-probe formation and of electron-specimen interactions. The different imaging and analytical modes using secondary and backscattered electrons, electron-beam-in…duced currents, X-ray and Auger electrons, electron channelling effects, and cathodoluminescence are discussed to evaluate specific contrasts and to obtain quantitative information. 544 pp. Englisch.
Lingua: Inglese
Editore: Springer, Springer Sep 1998, 1998
Serie: Libro 56 di 235 - Springer Series in Optical Sciences
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Buch. Condizione: Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -Scanning Electron Microscopy provides a description of the physics of electron-probe formation and of electron-specimen interactions. The different imaging and analytical modes using secondary and backscattered electrons, electron-beam-induce…d currents, X-ray and Auger electrons, electron channelling effects, and cathodoluminescence are discussed to evaluate specific contrasts and to obtain quantitative information.Springer-Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg 544 pp. Englisch.
