Isbn: 9786209965296 - conceptions vlsi tolérantes aux variations de processus: conceptions de circuits logiques dynamiques cmos hautement robustes et tolérantes aux variations de processus (9 risultati)

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Taschenbuch. Condizione: Neu. Conceptions VLSI tolérantes aux variations de processus | Conceptions de circuits logiques dynamiques CMOS hautement robustes et tolérantes aux variations de processus | Vikas Mahor | Taschenbuch | Französisch | 2026 | Editions Notre Savoir | EAN 9786209965296 | Verantwortliche Person für die EU: SIA OmniScriptum Publishing, Brivibas Gatve 197, 1039 RIGA, LETTLAND, customerservice[at]vdm-vsg[dot]de | Anbieter: preigu.…

Paperback. Condizione: new. Paperback. Les portes dynamiques constituent un excellent choix pour la conception de modules haute performance dans les microprocesseurs modernes. Leur seule limite reside dans leur marge de bruit relativement faible par rapport a celle des portes CMOS standard. Traditionnellement, ce probleme a ete resolu en utilisant un circuit de maintien pMOS qui compense le courant de fuite du reseau nMOS de mise a la masse. Dans les noeuds technologiques anterieurs, le circuit de maintien pouvait ameliorer la fiabilite des portes dynamiques avec une perte de performance mineure. Cependant, les tendances a la miniaturisation agressive de la technologie CMOS, associees a des niveaux croissants de variations de processus, ont reduit l'efficacite de l'approche traditionnelle par circuit de maintien. Ce probleme est plus grave dans les portes dynamiques a large fan-in en raison du grand nombre de dispositifs nMOS presentant des fuites connectes au noeud dynamique. Dans ce travail, une porte OU dynamique a large fan-in tolerante aux variations de processus est proposee, avec deux nouvelles conceptions de circuits de maintien capables de reduire la contention entre le circuit de maintien et le PDN et, par consequent, de reduire la dissipation de puissance et le retard. This item is printed on demand. Shipping may be from multiple locations in the US or from the UK, depending on stock availability. …

Taschenbuch. Condizione: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware 68 pp. Französisch.

Taschenbuch. Condizione: Neu. nach der Bestellung gedruckt Neuware - Printed after ordering - Les portes dynamiques constituent un excellent choix pour la conception de modules haute performance dans les microprocesseurs modernes. Leur seule limite réside dans leur marge de bruit relativement faible par rapport à celle des portes CMOS standard. Traditionnellement, ce problème a été résolu en utilisant un circuit de maintien pMOS qui compense le courant de fuite du réseau nMOS de mise à la masse. Dans les noeuds technologiques antérieurs, le circuit de maintien pouvait améliorer la fiabilité des portes dynamiques avec une perte de performance mineure. Cependant, les tendances à la miniaturisation agressive de la technologie CMOS, associées à des niveaux croissants de variations de processus, ont réduit l'efficacité de l'approche traditionnelle par circuit de maintien. Ce problème est plus grave dans les portes dynamiques à large fan-in en raison du grand nombre de dispositifs nMOS présentant des fuites connectés au noeud dynamique. Dans ce travail, une porte OU dynamique à large fan-in tolérante aux variations de processus est proposée, avec deux nouvelles conceptions de circuits de maintien capables de réduire la contention entre le circuit de maintien et le PDN et, par conséquent, de réduire la dissipation de puissance et le retard.…

Paperback. Condizione: new. Paperback. Les portes dynamiques constituent un excellent choix pour la conception de modules haute performance dans les microprocesseurs modernes. Leur seule limite reside dans leur marge de bruit relativement faible par rapport a celle des portes CMOS standard. Traditionnellement, ce probleme a ete resolu en utilisant un circuit de maintien pMOS qui compense le courant de fuite du reseau nMOS de mise a la masse. Dans les noeuds technologiques anterieurs, le circuit de maintien pouvait ameliorer la fiabilite des portes dynamiques avec une perte de performance mineure. Cependant, les tendances a la miniaturisation agressive de la technologie CMOS, associees a des niveaux croissants de variations de processus, ont reduit l'efficacite de l'approche traditionnelle par circuit de maintien. Ce probleme est plus grave dans les portes dynamiques a large fan-in en raison du grand nombre de dispositifs nMOS presentant des fuites connectes au noeud dynamique. Dans ce travail, une porte OU dynamique a large fan-in tolerante aux variations de processus est proposee, avec deux nouvelles conceptions de circuits de maintien capables de reduire la contention entre le circuit de maintien et le PDN et, par consequent, de reduire la dissipation de puissance et le retard. This item is printed on demand. Shipping may be from our UK warehouse or from our Australian or US warehouses, depending on stock availability. …

Taschenbuch. Condizione: Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware VDM Verlag, Dudweiler Landstraße 99, 66123 Saarbrücken 68 pp. Französisch.