Importo totale (1 articolo articoli):
Destinazione ordine:
9787519836641 - Development History of IEC and IEEE High Voltage and High Current Test Standards(Chinese Edition) di GUO JI DA DIAN WANG WEI YUAN HUI D1.35 GONG ZUO ZU , FAN JIAN B... (1 risultati)
Vai alla pagina principale dei risultati di ricerca
Filtri di ricerca
Tipo di articolo
- Tutti i tipi di prodotto
- Libri (1)
- Riviste e Giornali (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Fumetti (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Spartiti (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Arte, Stampe e Poster (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Fotografie (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Mappe (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Manoscritti e Collezionismo cartaceo (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
Condizioni Maggiori informazioni
- Nuovo (1)
- Come nuovo, Ottimo o Quasi ottimo (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Molto buono o Buono (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Discreto o Mediocre (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Come descritto (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
Legatura
- Tutte
- Rilegato (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Brossura (1)
Ulteriori caratteristiche
- Prima ed. (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Copia autograf. (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Sovracoperta (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Con foto (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Non Print on Demand (1)
Lingua (1)
Prezzo
- Qualsiasi prezzo
- Inferiore a EUR 20 (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- EUR 20 a EUR 45 (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Superiore a EUR 45
Spedizione gratuita
- Spedizione gratuita in U.S.A. (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
Paese del venditore
Valutazione venditore
-
Development History of IEC and IEEE High Voltage and High Current Test Standards(Chinese Edition)
Lingua: Inglese
Editore: China Electric Power Press, 2019
ISBN 10: 7519836649 ISBN 13: 9787519836641
EUR 91,61
Spedizione EUR 15,76
Spedito da Cina a U.S.A.Quantità: 3 disponibili
Aggiungi al carrellopaperback. Condizione: New. Paperback.Pub Date:2019-09 Pages:64 Language:Chinese Publisher:China Electric Power Press The authors have tried to clarify the difficulties in interpreting some standard clauses in the Development History of IEC\IEEE High Voltage and High Current Test Standards as much as possible. The revision of these clauses in the future can make the high voltage test standards clearer and more user-friendly. The Development History of IEC\IEEE High Voltage and High Current Test Standards first introduce.
