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Aggiungi al carrelloCondizione: New. J. Drelich, Kash L. MittalSince its discovery, Atomic Force Microscopy (AFM) has become a technique of choice for non-destructive surface characterization with sub-molecular resolution. The AFM has also emerged as a problem-solving tool in applications.
EUR 486,28
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EUR 540,51
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Aggiungi al carrelloBuch. Condizione: Neu. Neuware - Over 100 authors contributed to this book, summarizing current status of research on measurements of colloidal particle-solid adhesion and molecular forces, solid surface imaging and mapping, and discussing the contact mechanics models applicable to particle-substrate and particle-particle systems.
EUR 607,19
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Da: Majestic Books, Hounslow, Regno Unito
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