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9789400730939 - Models in Hardware Testing: Lecture Notes of the Forum in Honor of Christian Landrault: 43 (11 risultati)
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Models in Hardware Testing
Libro 22 di 40: Frontiers in Electronic TestingDa: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
Condizione: New. pp. 272.
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Models in Hardware Testing | Lecture Notes of the Forum in Honor of Christian Landrault
Libro 22 di 40: Frontiers in Electronic TestingEUR 95,15
Spedizione EUR 70,00
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 5 disponibili
Aggiungi al carrelloTaschenbuch. Condizione: Neu. Models in Hardware Testing | Lecture Notes of the Forum in Honor of Christian Landrault | Hans-Joachim Wunderlich | Taschenbuch | xiv | Englisch | 2012 | Springer Netherland | EAN 9789400730939 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
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Models in Hardware Testing: Lecture Notes of the Forum in Honor of Christian Landrault (Frontiers in Electronic Testing, 43)
Libro 22 di 40: Frontiers in Electronic TestingDa: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 154,67
Spedizione EUR 13,87
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. In.
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Models in Hardware Testing : Lecture Notes of the Forum in Honor of Christian Landrault
Libro 22 di 40: Frontiers in Electronic TestingLingua: Inglese
Editore: Springer Netherlands, Springer Netherlands, 2012
ISBN 10: 9400730934 ISBN 13: 9789400730939
EUR 112,77
Spedizione EUR 62,09
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloTaschenbuch. Condizione: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Model based testing is the most powerful technique for testing hardware and software systems. Models in Hardware Testing describes the use of models at all the levels of hardware testing. The relevant fault models for nanoscaled CMOS technology are introduced, and their implications on fault simulation, automatic test pattern generation, fault diagnosis, memory testing and power aware testing are discussed. Models and the corresponding algorithms are considered with respect to the most recent state of the art, and they are put into a historical context by a concluding chapter on the use of physical fault models in fault tolerance.
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Models in Hardware Testing: Lecture Notes of the Forum in Honor of Christian Landrault (Frontiers in Electronic Testing (43))
Libro 22 di 40: Frontiers in Electronic TestingDa: Mispah books, Redhill, SURRE, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 163,39
Spedizione EUR 28,95
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloPaperback. Condizione: Like New. Like New. book.
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Models in Hardware Testing (eng)
Libro 22 di 40: Frontiers in Electronic TestingDa: Brook Bookstore On Demand, Napoli, NA, Italia
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 86,24
Spedizione EUR 5,50
Spedito da Italia a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: new. Questo è un articolo print on demand.
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Models in Hardware Testing
Libro 22 di 40: Frontiers in Electronic TestingLingua: Inglese
Editore: Springer Netherlands Mrz 2012, 2012
ISBN 10: 9400730934 ISBN 13: 9789400730939
Da: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, Germania
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 106,99
Spedizione EUR 23,00
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloTaschenbuch. Condizione: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Model based testing is the most powerful technique for testing hardware and software systems. Models in Hardware Testing describes the use of models at all the levels of hardware testing. The relevant fault models for nanoscaled CMOS technology are introduced, and their implications on fault simulation, automatic test pattern generation, fault diagnosis, memory testing and power aware testing are discussed. Models and the corresponding algorithms are considered with respect to the most recent state of the art, and they are put into a historical context by a concluding chapter on the use of physical fault models in fault tolerance. 272 pp. Englisch.
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EUR 92,27
Spedizione EUR 48,99
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Introduction of model based hardware testingDescribes fault models for nanoscaled CMOS technologyFault simulation, ATPG and diagnosis algorithms for complex fault modelsComprehensive treatment including memory and low power aspects.
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Models in Hardware Testing
Libro 22 di 40: Frontiers in Electronic TestingDa: Majestic Books, Hounslow, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 148,05
Spedizione EUR 7,53
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 4 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. Print on Demand pp. 272 49:B&W 6.14 x 9.21 in or 234 x 156 mm (Royal 8vo) Perfect Bound on White w/Gloss Lam.
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Models in Hardware Testing
Libro 22 di 40: Frontiers in Electronic TestingDa: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Germania
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 149,19
Spedizione EUR 9,95
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 4 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. PRINT ON DEMAND pp. 272.
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Models in Hardware Testing
Libro 22 di 40: Frontiers in Electronic TestingLingua: Inglese
Editore: Springer Netherlands, Springer Netherlands Mär 2012, 2012
ISBN 10: 9400730934 ISBN 13: 9789400730939
Da: buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Germania
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 106,99
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Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloTaschenbuch. Condizione: Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -Model based testing is the most powerful technique for testing hardware and software systems. Models in Hardware Testing describes the use of models at all the levels of hardware testing. The relevant fault models for nanoscaled CMOS technology are introduced, and their implications on fault simulation, automatic test pattern generation, fault diagnosis, memory testing and power aware testing are discussed. Models and the corresponding algorithms are considered with respect to the most recent state of the art, and they are put into a historical context by a concluding chapter on the use of physical fault models in fault tolerance.Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg 272 pp. Englisch.
