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9789400797987 - Design, Analysis and Test of Logic Circuits Under Uncertainty: 115 di Krishnaswamy, Smita; Markov, Igor L.; Hayes, John P. (13 risultati)
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Design, Analysis and Test of Logic Circuits Under Uncertainty
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
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Design, Analysis and Test of Logic Circuits Under Uncertainty (Lecture Notes in Electrical Engineering, 115)
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 113,23
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EUR 95,15
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Aggiungi al carrelloTaschenbuch. Condizione: Neu. Design, Analysis and Test of Logic Circuits Under Uncertainty | Smita Krishnaswamy (u. a.) | Taschenbuch | Lecture Notes in Electrical Engineering | xii | Englisch | 2014 | Springer | EAN 9789400797987 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
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Design, Analysis and Test of Logic Circuits Under.
Da: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
Condizione: New. pp. 136.
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EUR 112,77
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Aggiungi al carrelloTaschenbuch. Condizione: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Logic circuits are becoming increasingly susceptible to probabilistic behavior caused by external radiation and process variation. In addition, inherently probabilistic quantum- and nano-technologies are on the horizon as we approach the limits of CMOS scaling. Ensuring the reliability of such circuits despite the probabilistic behavior is a key challenge in IC design---one that necessitates a fundamental, probabilistic reformulation of synthesis and testing techniques. This monograph will present techniques for analyzing, designing, and testing logic circuits with probabilistic behavior.
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Design, Analysis and Test of Logic Circuits Under Uncertainty (Lecture Notes in Electrical Engineering, 115)
Da: Mispah books, Redhill, SURRE, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 169,70
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Design, Analysis and Test of Logic Circuits Under Uncertainty
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: As New. Unread book in perfect condition.
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Design, Analysis and Test of Logic Circuits Under Uncertainty (eng)
Da: Brook Bookstore On Demand, Napoli, NA, Italia
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EUR 86,24
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Spedito da Italia a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
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Design, Analysis and Test of Logic Circuits Under Uncertainty
Lingua: Inglese
Editore: Springer Netherlands Okt 2014, 2014
ISBN 10: 9400797982 ISBN 13: 9789400797987
Da: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, Germania
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 106,99
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Aggiungi al carrelloTaschenbuch. Condizione: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Logic circuits are becoming increasingly susceptible to probabilistic behavior caused by external radiation and process variation. In addition, inherently probabilistic quantum- and nano-technologies are on the horizon as we approach the limits of CMOS scaling. Ensuring the reliability of such circuits despite the probabilistic behavior is a key challenge in IC design---one that necessitates a fundamental, probabilistic reformulation of synthesis and testing techniques. This monograph will present techniques for analyzing, designing, and testing logic circuits with probabilistic behavior. 136 pp. Englisch.
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EUR 92,27
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Aggiungi al carrelloCondizione: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Presents a comprehensive overview of Logic CircuitsCombines theory with practical examplesMulti-discipline approach to the hot topic of uncertaintyLogic circuits are becoming increasingly susceptible to probabilistic behavior caus.
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Design, Analysis and Test of Logic Circuits Under Uncertainty
Lingua: Inglese
Editore: Springer, Springer Okt 2014, 2014
ISBN 10: 9400797982 ISBN 13: 9789400797987
Da: buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Germania
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EUR 106,99
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Aggiungi al carrelloTaschenbuch. Condizione: Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -Logic circuits are becoming increasingly susceptible to probabilistic behavior caused by external radiation and process variation. In addition, inherently probabilistic quantum- and nano-technologies are on the horizon as we approach the limits of CMOS scaling. Ensuring the reliability of such circuits despite the probabilistic behavior is a key challenge in IC design---one that necessitates a fundamental, probabilistic reformulation of synthesis and testing techniques. This monograph will present techniques for analyzing, designing, and testing logic circuits with probabilistic behavior.Springer-Verlag KG, Sachsenplatz 4-6, 1201 Wien 136 pp. Englisch.
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Design, Analysis and Test of Logic Circuits Under.
Da: Majestic Books, Hounslow, Regno Unito
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EUR 171,71
Spedizione EUR 7,49
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 4 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. Print on Demand pp. 136.
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Design, Analysis and Test of Logic Circuits Under.
Da: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Germania
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