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9789535105763 - Scanning Probe Microscopy-Physical Property Characterization at Nanoscale (13 risultati)
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Scanning Probe Microscopy:physical Prope
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
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Scanning Probe Microscopy-Physical Property Characterization at Nanoscale
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 133,11
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Scanning Probe Microscopy:physical Prope
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
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Scanning Probe Microscopy:physical Prope
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
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Scanning Probe Microscopy:physical Prope
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 147,84
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Scanning Probe Microscopy-Physical Property Characterization at Nanoscale
Da: Mispah books, Redhill, SURRE, Regno Unito
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Scanning Probe Microscopy
Da: PBShop.store UK, Fairford, GLOS, Regno Unito
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Scanning Probe Microscopy
Da: PBShop.store US, Wood Dale, IL, U.S.A.
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Aggiungi al carrelloGebunden. Condizione: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. KlappentextrnrnScanning probe microscopy (SPM) is one of the key enabling tools for the advancement for nanotechnology with applications in many interdisciplinary research areas. This book presents selected original research works on the applica.
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Scanning Probe Microscopy
Da: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, Germania
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Aggiungi al carrelloBuch. Condizione: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Scanning probe microscopy (SPM) is one of the key enabling tools for the advancement for nanotechnology with applications in many interdisciplinary research areas. This book presents selected original research works on the application of scanning probe microscopy techniques for the characterization of physical properties of different materials at the nanoscale. The topics in the book range from surface morphology analysis of thin film structures, oxide thin layers and superconducting structures, novel scanning probe microscopy techniques for characterization of mechanical and electrical properties, evaluation of mechanical and tribological properties of hybrid coatings and thin films. The variety of topics chosen for the book underlines the strong interdisciplinary nature of the research work in the field of scanning probe microscopy. 256 pp. Englisch.
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Aggiungi al carrelloBuch. Condizione: Neu. Scanning Probe Microscopy | Physical Property Characterization at Nanoscale | Vijay Nalladega | Buch | 256 S. | Englisch | 2012 | IntechOpen | EAN 9789535105763 | Verantwortliche Person für die EU: BoD - Books on Demand, In de Tarpen 42, 22848 Norderstedt, info[at]bod[dot]de | Anbieter: preigu Print on Demand.
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Scanning Probe Microscopy
Da: buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Germania
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EUR 129,00
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Aggiungi al carrelloBuch. Condizione: Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -Scanning probe microscopy (SPM) is one of the key enabling tools for the advancement for nanotechnology with applications in many interdisciplinary research areas. This book presents selected original research works on the application of scanning probe microscopy techniques for the characterization of physical properties of different materials at the nanoscale. The topics in the book range from surface morphology analysis of thin film structures, oxide thin layers and superconducting structures, novel scanning probe microscopy techniques for characterization of mechanical and electrical properties, evaluation of mechanical and tribological properties of hybrid coatings and thin films. The variety of topics chosen for the book underlines the strong interdisciplinary nature of the research work in the field of scanning probe microscopy.Books on Demand GmbH, Überseering 33, 22297 Hamburg 256 pp. Englisch.
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EUR 130,55
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Aggiungi al carrelloBuch. Condizione: Neu. nach der Bestellung gedruckt Neuware - Printed after ordering - Scanning probe microscopy (SPM) is one of the key enabling tools for the advancement for nanotechnology with applications in many interdisciplinary research areas. This book presents selected original research works on the application of scanning probe microscopy techniques for the characterization of physical properties of different materials at the nanoscale. The topics in the book range from surface morphology analysis of thin film structures, oxide thin layers and superconducting structures, novel scanning probe microscopy techniques for characterization of mechanical and electrical properties, evaluation of mechanical and tribological properties of hybrid coatings and thin films. The variety of topics chosen for the book underlines the strong interdisciplinary nature of the research work in the field of scanning probe microscopy.
