9789810248420 - oxide reliability: a summary of silicon oxide wearout, breadown, and reliability: 23 (3 risultati)
- Rilegato
Da: Hamelyn, Madrid, M, SpagnaHamelyn
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Usato - Molto buono
EUR 35,84
EUR 12,99 spedizioneSpedito da Spagna a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Condizione: Bueno. : Este libro trata sobre la fiabilidad del óxido de silicio, abordando el desgaste, la ruptura y la fiabilidad de este material. Se centra en el transistor metal-óxido-semiconductor (MOS) y su invención en 1960. Cubre temas seleccionados en electrónica y sistemas, proporcionando un resumen del tema. EAN: 97898…10248420 Tipo: Libros Categoría: Tecnología|Ciencias Título: Oxide Reliability Autor: D. J. Dumin Editorial: World Scientific Publishing Company Idioma: en Páginas: 280 Formato: tapa dura.
- Rilegato
Da: Basi6 International, Irving, TX, U.S.A.Basi6 International
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Nuovo
EUR 77,35
Spedizione gratuitaSpedito in U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Condizione: Brand New. New. US edition. Expediting shipping for all USA and Europe orders excluding PO Box. Excellent Customer Service.
- Rilegato
Da: BookScene, Hull, MA, U.S.A.BookScene
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Usato - Ottimo
EUR 135,26
EUR 4,81 spedizioneSpedito in U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Hardcover. Condizione: Fine. Condizione sovraccoperta: Very Good. Hardcover. Book Condition: Fine. Jacket Condition: Very Good. World Scientific Publishing Company, 2002. 280 pages. Nice Firm Clean copy ! Jacket has 1 short tear. Size: 10 x 6.7 x 0.7. Engineering Science/Nature::Chemistry 6039L.
