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9789811227028 - Secondary Electron Energy Spectroscopy in the Scanning Electron Microscope di Khursheed, Anjam (12 risultati)
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Secondary Electron Energy Spectroscopy in the Scanning Electron Microscope
Lingua: Inglese
Editore: World Scientific Publishing Company, 2020
ISBN 10: 9811227020 ISBN 13: 9789811227028
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: New.
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Secondary Electron Energy Spectroscopy In The Scanning Electron Microscope
Lingua: Inglese
Editore: World Scientific Publishing Co Pte Ltd, 2020
ISBN 10: 9811227020 ISBN 13: 9789811227028
Da: PBShop.store US, Wood Dale, IL, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
HRD. Condizione: New. New Book. Shipped from UK. Established seller since 2000.
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Secondary Electron Energy Spectroscopy in the Scanning Electron Microscope
Lingua: Inglese
Editore: World Scientific Publishing Company, 2020
ISBN 10: 9811227020 ISBN 13: 9789811227028
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: As New. Unread book in perfect condition.
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Secondary Electron Energy Spectroscopy In The Scanning Electron Microscope
Lingua: Inglese
Editore: World Scientific Publishing Co Pte Ltd, 2020
ISBN 10: 9811227020 ISBN 13: 9789811227028
Da: PBShop.store UK, Fairford, GLOS, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
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Aggiungi al carrelloHRD. Condizione: New. New Book. Shipped from UK. Established seller since 2000.
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Secondary Electron Energy Spectroscopy in the Scanning Electron Microscope
Lingua: Inglese
Editore: World Scientific Publishing Company, 2020
ISBN 10: 9811227020 ISBN 13: 9789811227028
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 127,09
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Secondary Electron Energy Spectroscopy in the Scanning Electron Microscope
Lingua: Inglese
Editore: World Scientific Publishing Company, 2020
ISBN 10: 9811227020 ISBN 13: 9789811227028
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
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Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
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Secondary Electron Energy Spectroscopy Scanning Electron
Lingua: Inglese
Editore: World Scientific Publishing Company, 2020
ISBN 10: 9811227020 ISBN 13: 9789811227028
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 142,14
Spedizione EUR 14,09
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
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Secondary Electron Energy Spectroscopy in the Scanning Electron Microscope
Lingua: Inglese
Editore: World Scientific Pub Co Inc, 2020
ISBN 10: 9811227020 ISBN 13: 9789811227028
Da: Revaluation Books, Exeter, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
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Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: Brand New. 327 pages. 9.25x6.25x1.00 inches. In Stock.
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Secondary Electron Energy Spectroscopy in the Scanning Electron Microscope
Lingua: Inglese
Editore: World Scientific Pub Co Inc, 2020
ISBN 10: 9811227020 ISBN 13: 9789811227028
Da: Revaluation Books, Exeter, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
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Aggiungi al carrelloGebunden. Condizione: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. KlappentextrnrnThis book deals with the subject of secondary energy spectroscopy in the scanning electron microscope (SEM). The SEM is a widely used research instrument for scientific and engineering research and its low energy scattered electro.
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Aggiungi al carrelloBuch. Condizione: Neu. SECONDARY ELECTRON ENERGY SPECTROSCOPY SCANNING ELECTRON | Khursheed Anjam | Buch | Gebunden | Englisch | 2020 | World Scientific | EAN 9789811227028 | Verantwortliche Person für die EU: Libri GmbH, Europaallee 1, 36244 Bad Hersfeld, gpsr[at]libri[dot]de | Anbieter: preigu Print on Demand.
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EUR 167,57
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Aggiungi al carrelloBuch. Condizione: Neu. nach der Bestellung gedruckt Neuware - Printed after ordering - This book deals with the subject of secondary energy spectroscopy in the scanning electron microscope (SEM). The SEM is a widely used research instrument for scientific and engineering research and its low energy scattered electrons, known as secondary electrons, are used mainly for the purpose of nanoscale topographic imaging. This book demonstrates the advantages of carrying out precision electron energy spectroscopy of its secondary electrons, in addition to them being used for imaging. The book will demonstrate how secondary electron energy spectroscopy can transform the SEM into a powerful analytical tool that can map valuable material science information to the nanoscale, superimposing it onto the instrument's normal topographic mode imaging. The book demonstrates how the SEM can then be used to quantify/identify materials, acquire bulk density of states information, capture dopant density distributions in semiconductor specimens, and map surface charge distributions.
