9789811351815 - research on the radiation effects and compact model of sige hbt di sun, yabin (11 risultati)
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Taschenbuch. Condizione: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book primarily focuses on the radiation effects and compact model of silicon-germanium (SiGe) heterojunction bipolar transistors (HBTs). It introduces the small-signal equivalent circuit of SiGe HBTs including the distributed effects, and pro…poses a novel direct analytical extraction technique based on non-linear rational function fitting. It also presents the total dose effects irradiated by gamma rays and heavy ions, as well as the single-event transient induced by pulse laser microbeams. It offers readers essential information on the irradiation effects technique and the SiGe HBTs model using that technique.
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Taschenbuch. Condizione: Neu. Research on the Radiation Effects and Compact Model of SiGe HBT | Yabin Sun | Taschenbuch | Springer Theses | xxiv | Englisch | 2019 | Springer | EAN 9789811351815 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com… | Anbieter: preigu.
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Editore: Springer Nature Singapore Jan 2019, 2019
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Taschenbuch. Condizione: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -This book primarily focuses on the radiation effects and compact model of silicon-germanium (SiGe) heterojunction bipolar transistors (HBTs). It introduces the small-signal equivalent circuit of SiGe HBTs including the distributed…effects, and proposes a novel direct analytical extraction technique based on non-linear rational function fitting. It also presents the total dose effects irradiated by gamma rays and heavy ions, as well as the single-event transient induced by pulse laser microbeams. It offers readers essential information on the irradiation effects technique and the SiGe HBTs model using that technique. 192 pp. Englisch.
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Condizione: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Dr. Yabin Sun received his bachelor s degree in Electronic Science and Technology from Jilin University, China in 2010, and his Ph.D in Microelectronics from Tsinghua University, China in 2015. His research focuses o…n the reliability, d.
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Editore: Springer, Springer Jan 2019, 2019
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Taschenbuch. Condizione: Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -Nominated as an outstanding PhD dissertation by Tsinghua University, ChinaSpringer-Verlag KG, Sachsenplatz 4-6, 1201 Wien 192 pp. Englisch.
