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9789811931345 - Thermal Reliability of Power Semiconductor Device in the Renewable Energy System di Du, Xiong; Zhang, Jun; Li, Gaoxian; Yu, Yaoyi; Qian, Cheng (10 risultati)
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Thermal Reliability of Power Semiconductor Device in the Renewable Energy System
Da: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.
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Condizione: New.
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EUR 140,00
Spedizione EUR 70,00
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 5 disponibili
Aggiungi al carrelloTaschenbuch. Condizione: Neu. Thermal Reliability of Power Semiconductor Device in the Renewable Energy System | Xiong Du (u. a.) | Taschenbuch | xvi | Englisch | 2023 | Springer | EAN 9789811931345 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
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EUR 167,14
Spedizione EUR 61,65
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloTaschenbuch. Condizione: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book focuses on the thermal reliability of power semiconductor device by looking at the failure mechanism, thermal parameters monitoring, junction temperature estimation, lifetime evaluation, and thermal management. Theoretical analysis and experimental tests are presented to explain existing reliability improvement techniques. This book is a valuable reference for the students and researchers who pay attention to the thermal reliability design of power semiconductor device.
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Thermal Reliability of Power Semiconductor Device in the Renewable Energy System (CPSS Power Electronics Series)
Da: Mispah books, Redhill, SURRE, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 258,74
Spedizione EUR 28,94
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
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Thermal Reliability of Power Semiconductor Device in the Renewable Energy System (eng)
Da: Brook Bookstore On Demand, Napoli, NA, Italia
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EUR 126,26
Spedizione EUR 5,50
Spedito da Italia a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
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Thermal Reliability of Power Semiconductor Device in the Renewable Energy System
Lingua: Inglese
Editore: Springer Nature Singapore Jul 2023, 2023
ISBN 10: 9811931348 ISBN 13: 9789811931345
Da: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, Germania
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 160,49
Spedizione EUR 23,00
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloTaschenbuch. Condizione: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -This book focuses on the thermal reliability of power semiconductor device by looking at the failure mechanism, thermal parameters monitoring, junction temperature estimation, lifetime evaluation, and thermal management. Theoretical analysis and experimental tests are presented to explain existing reliability improvement techniques. This book is a valuable reference for the students and researchers who pay attention to the thermal reliability design of power semiconductor device. 188 pp. Englisch.
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Thermal Reliability of Power Semiconductor Device in the Renewable Energy System
Lingua: Inglese
Editore: Springer, Berlin|Springer Nature Singapore|Springer, 2023
ISBN 10: 9811931348 ISBN 13: 9789811931345
EUR 136,16
Spedizione EUR 48,99
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. This book focuses on the thermal reliability of power semiconductor device by looking at the failure mechanism, thermal parameters monitoring, junction temperature estimation, lifetime evaluation, and thermal management. Theoretical analysis and experimenta.
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Thermal Reliability of Power Semiconductor Device in the Renewable Energy System
Da: Majestic Books, Hounslow, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 201,78
Spedizione EUR 7,52
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 4 disponibili
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Thermal Reliability of Power Semiconductor Device in the Renewable Energy System
Lingua: Inglese
Editore: Springer, Springer Jul 2023, 2023
ISBN 10: 9811931348 ISBN 13: 9789811931345
Da: buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Germania
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 160,49
Spedizione EUR 60,00
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloTaschenbuch. Condizione: Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -This book focuses on the thermal reliability of power semiconductor device by looking at the failure mechanism, thermal parameters monitoring, junction temperature estimation, lifetime evaluation, and thermal management. Theoretical analysis and experimental tests are presented to explain existing reliability improvement techniques. This book is a valuable reference for the students and researchers who pay attention to the thermal reliability design of power semiconductor device.Springer-Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg 188 pp. Englisch.
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Thermal Reliability of Power Semiconductor Device in the Renewable Energy System
Da: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Germania
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 220,77
Spedizione EUR 9,95
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 4 disponibili
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