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9789812389404 - Radiation Effects And Soft Errors In Integrated Circuits And Electronic Devices: 34 di Fleetwood, Daniel M. (13 risultati)
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Radiation Effects And Soft Errors In Integrated Circuits And Electronic Devices
Lingua: Inglese
Editore: World Scientific Publishing Company, 2004
ISBN 10: 9812389407 ISBN 13: 9789812389404
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 157,67
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Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
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Radiation Effects And Soft Errors In Integrated Circuits And Electronic Devices
Lingua: Inglese
Editore: World Scientific Publishing Co Pte Ltd, 2004
ISBN 10: 9812389407 ISBN 13: 9789812389404
Da: PBShop.store US, Wood Dale, IL, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
HRD. Condizione: New. New Book. Shipped from UK. Established seller since 2000.
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Radiation Effects And Soft Errors In Integrated Circuits And Electronic Devices
Lingua: Inglese
Editore: World Scientific Publishing Company, 2004
ISBN 10: 9812389407 ISBN 13: 9789812389404
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 164,84
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Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
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Radiation Effects And Soft Errors In Integrated Circuits And Electronic Devices
Lingua: Inglese
Editore: World Scientific Publishing Co Pte Ltd, 2004
ISBN 10: 9812389407 ISBN 13: 9789812389404
Da: PBShop.store UK, Fairford, GLOS, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 165,10
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Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 15 disponibili
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Radiation Effects & Soft Errors ...(V34) (Selected Topics in Electronics and Systems)
Lingua: Inglese
Editore: World Scientific Publishing Company, 2004
ISBN 10: 9812389407 ISBN 13: 9789812389404
Da: California Books, Miami, FL, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 173,69
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Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
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Radiation Effects And Soft Errors In Integrated Circuits And Electronic Devices
Lingua: Inglese
Editore: World Scientific Publishing Company, 2004
ISBN 10: 9812389407 ISBN 13: 9789812389404
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 164,86
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Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
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Radiation Effects And Soft Errors In Integrated Circuits And Electronic Devices
Lingua: Inglese
Editore: World Scientific Publishing Company, 2004
ISBN 10: 9812389407 ISBN 13: 9789812389404
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 164,97
Spedizione EUR 17,39
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
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Radiation Effects & Soft Errors ...(V34) (Selected Topics in Electronics and Systems)
Lingua: Inglese
Editore: World Scientific Publishing Company, 2004
ISBN 10: 9812389407 ISBN 13: 9789812389404
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 169,47
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RADIATION EFFECTS AND SOFT ERRORS IN INTEGRATED CIRCUITS AND ELECTRONIC DEVICES (Selected Topics in Electronics and Systems)
Lingua: Inglese
Editore: World Scientific Publishing Company, 2004
ISBN 10: 9812389407 ISBN 13: 9789812389404
Da: BennettBooksLtd, Los Angeles, CA, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
hardcover. Condizione: New. In shrink wrap. Looks like an interesting title!
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Radiation Effects And Soft Errors In Integrated Circuits And Electronic Devices
Lingua: Inglese
Editore: World Scientific Pub Co Inc, 2004
ISBN 10: 9812389407 ISBN 13: 9789812389404
Da: Revaluation Books, Exeter, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
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Aggiungi al carrelloPaperback. Condizione: Brand New. 338 pages. 9.75x6.50x0.75 inches. In Stock.
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RADIATION EFFECTS AND SOFT ERRORS IN INTEGRATED CIRCUITS AND ELECTRONIC DEVICES
Lingua: Inglese
Editore: World Scientific Publishing Company, 2004
ISBN 10: 9812389407 ISBN 13: 9789812389404
EUR 141,85
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Aggiungi al carrelloGebunden. Condizione: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. KlappentextrnrnThis book provides a detailed treatment of radiation effects in electronic devices, including effects at the material, device, and circuit levels. The emphasis is on transient effects caused by single ionizing particles (single-ev.
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EUR 147,10
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Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 5 disponibili
Aggiungi al carrelloBuch. Condizione: Neu. RADIATION EFFECTS & SOFT ERRORS .(V34) | Schrimpf R D | Buch | Gebunden | Englisch | 2004 | World Scientific | EAN 9789812389404 | Verantwortliche Person für die EU: Libri GmbH, Europaallee 1, 36244 Bad Hersfeld, gpsr[at]libri[dot]de | Anbieter: preigu Print on Demand.
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Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloBuch. Condizione: Neu. nach der Bestellung gedruckt Neuware - Printed after ordering - This book provides a detailed treatment of radiation effects in electronic devices, including effects at the material, device, and circuit levels. The emphasis is on transient effects caused by single ionizing particles (single-event effects and soft errors) and effects produced by the cumulative energy deposited by the radiation (total ionizing dose effects). Bipolar (Si and SiGe), metal-oxide-semiconductor (MOS), and compound semiconductor technologies are discussed. In addition to considering the specific issues associated with high-performance devices and technologies, the book includes the background material necessary for understanding radiation effects at a more general level.
