9789819823093 - atomic force microscopy: a concise introduction di burnham, nancy a (15 risultati)
- Rilegato
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.GreatBookPrices
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Nuovo
EUR 91,93
EUR 2,28 spedizioneSpedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Condizione: New.
- Rilegato
Da: California Books, Miami, FL, U.S.A.California Books
Contatta il venditoreVenditore con 4 stelleCondizione: Nuovo
EUR 94,47
Spedizione gratuitaSpedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Condizione: New.
- Rilegato
Da: PBShop.store US, Wood Dale, IL, U.S.A.PBShop.store US
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Nuovo
EUR 96,36
Spedizione gratuitaSpedito in U.S.A.Quantità: 15 disponibili
HRD. Condizione: New. New Book. Shipped from UK. Established seller since 2000.
- Rilegato
Da: PBShop.store UK, Fairford, GLOS, Regno UnitoPBShop.store UK
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Nuovo
EUR 93,06
EUR 4,85 spedizioneSpedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 15 disponibili
HRD. Condizione: New. New Book. Shipped from UK. Established seller since 2000.
- Rilegato
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.GreatBookPrices
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Usato - Come nuovo
EUR 102,05
EUR 2,28 spedizioneSpedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Condizione: As New. Unread book in perfect condition.
- Rilegato
Da: Rarewaves.com USA, London, LONDO, Regno UnitoRarewaves.com USA
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Nuovo
EUR 107,12
Spedizione gratuitaSpedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 7 disponibili
Hardback. Condizione: New. This book offers a comprehensive and accessible introduction to atomic force microscopy (AFM) - a fundamental technique in nanoscience, nanotechnology, and materials characterization. While the basic operating principle of AFM is straightforward, the processes of data acquisition, quantitative analysis…, and interpretation require deeper scientific understanding.Designed for readers with a first-year university background in mathematics and physics, this text builds a strong foundation for mastering both the practical and theoretical aspects of AFM.
- Rilegato
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno UnitoGreatBookPricesUK
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Nuovo
EUR 93,05
EUR 17,48 spedizioneSpedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Condizione: New.
- Rilegato
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno UnitoGreatBookPricesUK
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Usato - Come nuovo
EUR 102,90
EUR 17,48 spedizioneSpedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Condizione: As New. Unread book in perfect condition.
- Rilegato
Da: Revaluation Books, Exeter, Regno UnitoRevaluation Books
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Nuovo
EUR 124,13
EUR 11,65 spedizioneSpedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Hardcover. Condizione: Brand New. 216 pages. 6.00x0.65x9.00 inches. In Stock.
- Rilegato
Da: Rarewaves.com UK, London, Regno UnitoRarewaves.com UK
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Nuovo
EUR 100,46
EUR 75,75 spedizioneSpedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 7 disponibili
Hardback. Condizione: New. This book offers a comprehensive and accessible introduction to atomic force microscopy (AFM) - a fundamental technique in nanoscience, nanotechnology, and materials characterization. While the basic operating principle of AFM is straightforward, the processes of data acquisition, quantitative analysis…, and interpretation require deeper scientific understanding.Designed for readers with a first-year university background in mathematics and physics, this text builds a strong foundation for mastering both the practical and theoretical aspects of AFM.
Lingua: Inglese
Editore: World Scientific Publishing Co Pte Ltd, Singapore, 2026
- Rilegato
- Print on Demand
Da: Grand Eagle Retail, Bensenville, IL, U.S.A.Grand Eagle Retail
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Nuovo
EUR 94,27
Spedizione gratuitaSpedito in U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Hardcover. Condizione: new. Hardcover. This book offers a comprehensive and accessible introduction to atomic force microscopy (AFM) a fundamental technique in nanoscience, nanotechnology, and materials characterization. While the basic operating principle of AFM is straightforward, the processes of data acquisition, quantitativ…e analysis, and interpretation require deeper scientific understanding.Designed for readers with a first-year university background in mathematics and physics, this text builds a strong foundation for mastering both the practical and theoretical aspects of AFM. This item is printed on demand. Shipping may be from multiple locations in the US or from the UK, depending on stock availability.
Lingua: Inglese
Editore: World Scientific Publishing Co Pte Ltd, Singapore, 2026
- Rilegato
- Print on Demand
Da: CitiRetail, Stevenage, Regno UnitoCitiRetail
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Nuovo
EUR 112,22
EUR 43,12 spedizioneSpedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Hardcover. Condizione: new. Hardcover. This book offers a comprehensive and accessible introduction to atomic force microscopy (AFM) a fundamental technique in nanoscience, nanotechnology, and materials characterization. While the basic operating principle of AFM is straightforward, the processes of data acquisition, quantitativ…e analysis, and interpretation require deeper scientific understanding.Designed for readers with a first-year university background in mathematics and physics, this text builds a strong foundation for mastering both the practical and theoretical aspects of AFM. This item is printed on demand. Shipping may be from our UK warehouse or from our Australian or US warehouses, depending on stock availability.
Lingua: Inglese
Editore: World Scientific Publishing Co Pte Ltd, Singapore, 2026
- Rilegato
- Print on Demand
Da: AussieBookSeller, Truganina, VIC, AustraliaAussieBookSeller
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Nuovo
EUR 148,61
EUR 32,01 spedizioneSpedito da Australia a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Hardcover. Condizione: new. Hardcover. This book offers a comprehensive and accessible introduction to atomic force microscopy (AFM) a fundamental technique in nanoscience, nanotechnology, and materials characterization. While the basic operating principle of AFM is straightforward, the processes of data acquisition, quantitativ…e analysis, and interpretation require deeper scientific understanding.Designed for readers with a first-year university background in mathematics and physics, this text builds a strong foundation for mastering both the practical and theoretical aspects of AFM. This item is printed on demand. Shipping may be from our Sydney, NSW warehouse or from our UK or US warehouse, depending on stock availability.
- Rilegato
- Print on Demand
Da: preigu, Osnabrück, Germaniapreigu
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Nuovo
EUR 113,10
EUR 70,00 spedizioneSpedito da Germania a U.S.A.Quantità: 5 disponibili
Buch. Condizione: Neu. ATOMIC FORCE MICROSCOPY | A CONCISE INTRODUCTION | Burnham Nancy A | Buch | Englisch | 2026 | World Scientific | EAN 9789819823093 | Verantwortliche Person für die EU: Libri GmbH, Europaallee 1, 36244 Bad Hersfeld, gpsr[at]libri[dot]de | Anbieter: preigu Print on Demand.
- Rilegato
- Print on Demand
Da: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, GermaniaAHA-BUCH GmbH
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Nuovo
EUR 125,84
EUR 62,36 spedizioneSpedito da Germania a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Buch. Condizione: Neu. nach der Bestellung gedruckt Neuware - Printed after ordering - This book offers a comprehensive and accessible introduction to atomic force microscopy (AFM) - a fundamental technique in nanoscience, nanotechnology, and materials characterization. While the basic operating principle of AFM is straightforwa…rd, the processes of data acquisition, quantitative analysis, and interpretation require deeper scientific understanding.Designed for readers with a first-year university background in mathematics and physics, this text builds a strong foundation for mastering both the practical and theoretical aspects of AFM.Part I - AFM Instrumentation: Explains the working principles, components, and imaging modes of atomic force microscopy, enabling readers to confidently obtain high-quality topographic images from any AFM system.Part II - Force-Curve Acquisition and Interpretation: Guides readers through force spectroscopy, demonstrating how force-distance curves are acquired and interpreted while connecting the results to underlying physical and materials science principles.Advanced Chapter - Dynamic AFM Techniques: Introduces dynamic and resonance-based AFM, using complex numbers and differential equations to explain advanced imaging and measurement methods.
